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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SeMI | 2022-01-21 09:10 |
長野 | 野沢温泉スパリーナ コンベンションホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
［ショートペーパー］音波による小口径下水管内における浮流型観測機の位置推定に関する検討 ○丸山健斗・近本祐介・堤 悠喜・立花誠也・石原 進（静岡大）  SeMI2021-71 |
[more] | SeMI2021-71 pp.70-74 |
| SRW, SeMI, CNR (併催) |
2021-11-25 11:20 |
東京 | 機械振興会館 (予定) （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
小口径下水管内における高信頼性UDPベースプロトコルを使用した際のデータ転送性能 ○立花誠也・近本祐介・堤 悠喜・石原 進（静岡大） SeMI2021-31 |
筆者らは，短時間・低コストの下水管検査手法として，浮流無線カメラ端末を用いた省力下水管検査を提案している．石原らは小口径... [more] | SeMI2021-31 pp.7-12 |
| SeMI | 2021-01-20 14:10 |
ONLINE | オンライン開催 | 浮流無線カメラを用いた下水管検査システムのためのデータ集約システムの設計と実装 ○近本祐介・立花誠也・堤 悠喜・石原 進（静岡大） SeMI2020-46 |
[more] | SeMI2020-46 pp.16-21 |
| SRW, SeMI, CNR (併催) |
2020-11-26 16:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ［ポスター講演］小口径下水管内での浮流無線LANノードからのバルクデータ転送性能 ○立花誠也・近本祐介・堤 悠喜・石原 進（静岡大） SeMI2020-28 |
[more] | SeMI2020-28 pp.51-56 |
| RECONF | 2015-06-20 14:00 |
京都 | 京都大学 | SOTBトランジスタを用いた4つ目のFlex Power FPGAチップを搭載した評価ボードAISTinoについて ○小池汎平・日置雅和・小笠原泰弘（産総研）・石垣隼人・堤 利幸（明大）・中川 格・関川敏弘（産総研） RECONF2015-22 |
Flex Power FPGAは、ボディバイアス技術を利用して、FPGAの各回路ブロックのしきい値電圧をプログラム可能と... [more] | RECONF2015-22 pp.119-124 |
| RECONF, CPSY, VLD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2015-01-30 11:10 |
神奈川 | 慶應義塾大学 日吉キャンパス | LSI自動設計における凸域探索迷路法の提案 ○堀野洋平・平山 潤・大石倖子・堤 利幸（明大） VLD2014-138 CPSY2014-147 RECONF2014-71 |
LSIの高速な配線アルゴリズムとして矩形探索迷路法を拡張した凸域探索迷路法を提案する．矩形探索迷路法では配線領域を矩形に... [more] | VLD2014-138 CPSY2014-147 RECONF2014-71 pp.163-168 |
| RECONF | 2014-09-18 17:20 |
広島 | 杜の宿 | SOTBトランジスタを用いた2つ目のFlex Power FPGAチップについて ○小池汎平（産総研）・馬 超（明大）・日置雅和・小笠原泰弘（産総研）・堤 利幸（明大）・中川 格・関川敏弘（産総研） RECONF2014-24 |
[more] | RECONF2014-24 pp.41-46 |
| RECONF | 2014-06-12 10:25 |
宮城 | 片平さくらホール | Flex Power FPGAにおける配線アーキテクチャ探索によるインプリメンタビリティの向上 ○日置雅和・関川敏弘・中川 格・小笠原泰弘（産総研）・堤 利幸（明大）・小池汎平（産総研） RECONF2014-5 |
新たなFlex Power FPGAチップの設計を行うために，現在までに試作してきたチップアーキテクチャに対して様々な規... [more] | RECONF2014-5 pp.21-25 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | SOTBトランジスタを用いた最初のFlex Power FPGAチップの評価 ○馬 超（産総研/明大）・日置雅和（産総研）・河並 崇（金沢工大）・小笠原泰弘・中川 格・関川敏弘（産総研）・堤 利幸（産総研/明大）・小池汎平（産総研） RECONF2013-53 |
Flex Power FPGAは、ボディバイアス技術を利用して、FPGAの各回路ブロックのしきい値電圧をプログラムするこ... [more] | RECONF2013-53 pp.77-82 |
| DC | 2013-02-13 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | 半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 ○大栗裕人・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・樋上善信・高橋 寛（愛媛大） DC2012-84 |
半断線故障が発生すると，故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし，故障配線に信号遷移を与える検査入... [more] | DC2012-84 pp.25-30 |
| DC | 2012-06-22 14:20 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み ○高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2012-12 |
本研究では，電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] | DC2012-12 pp.21-26 |
| RECONF | 2012-05-29 11:00 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発 ○河並 崇（金沢工大）・日置雅和（産総研）・松本洋平（東京海洋大）・堤 利幸（明大）・中川 格・関川敏弘・小池汎平（産総研） RECONF2012-5 |
スーパーコンピュータから情報家電まで幅広い分野での活用が増えてきたプログラム可能論理素子FPGA(Field Progr... [more] | RECONF2012-5 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 09:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低電力プロセスによる試作と評価 ○日置雅和（産総研）・河並 崇（金沢工大）・松本洋平（東京海洋大）・堤 利幸（明大）・中川 格・関川敏弘・小池帆平（産総研） RECONF2010-45 |
電力を再構成可能なFPGAであるFlex Power FPGAは，スタティック電力の削減を目的としている．Flex Po... [more] | RECONF2010-45 pp.37-42 |
| DC | 2010-02-15 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について ○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2009-68 |
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために，本稿では，抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] | DC2009-68 pp.19-24 |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
| RECONF | 2009-09-17 15:40 |
栃木 | 宇都宮大学 | 電力を再構成可能なFlex Power FPGAチップの設計と試作 ○日置雅和（産総研）・河並 崇（金沢工大）・松本洋平（産総研）・堤 利幸（明大）・中川 格・関川敏弘・小池帆平（産総研） RECONF2009-25 |
我々の研究グループは，ソフトウェアとハードウェアの観点から，電力を再構成可能なFPGA である“Flex Power F... [more] | RECONF2009-25 pp.37-42 |
| DC | 2009-02-16 14:15 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて ○渡部哲也・高橋 寛・樋上喜信（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-74 |
配線の微細化,長距離化に伴って,配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している. オープン故... [more] |
DC2008-74 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 14:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | TEGチップを用いたオープン故障の解析 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） VLD2008-63 DC2008-31 |
半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている．特に，オープン故障への対策はLSIの微細化に... [more] | VLD2008-63 DC2008-31 pp.19-24 |
| DC | 2008-06-20 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | オープン故障診断の性能向上について ○山崎浩二・堤 利幸（明大）・高橋 寛・樋上喜信・相京 隆（愛媛大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-16 |
回路の微細化や銅配線の導入により，配線やビアの断線の発生頻度が高まっている．そのため，オープン故障診断法の開発の重要性が... [more] | DC2008-16 pp.29-34 |
| DC | 2008-02-08 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛・樋上喜信・相京 隆・門山周平・○渡部哲也・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2007-68 |
配線の微細化，長距離化に伴って，配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している． 本稿では，... [more] |
DC2007-68 pp.7-12 |
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