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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-06-19 10:45 |
東京 | 機械振興会館 | SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察 ○新井雅之・遠藤辰朗・岩崎一彦（首都大東京）・中尾教伸・鈴木 巌（ルネサステクノロジ）  DC2009-11 |
本研究では，メモリBIST回路の面積削減手法，および歩留りと面積を考慮したSRAMへの冗長割り当てアルゴリズムの有効性に... [more] | DC2009-11 pp.7-12 |
| DC | 2009-06-19 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例 ○山元廣志・和田弘樹・小串 亨・中尾教伸（ルネサステクノロジ） DC2009-17 |
半導体製造プロセスの微細化や複雑化に伴い，故障モードが多様となっており，製品の歩留り向上・品質確保のためには，その製品で... [more] | DC2009-17 p.35 |
| SDM | 2008-10-10 13:00 |
宮城 | 東北大学 | B18H22注入のミリ秒アニールに対する適用性 ○川崎洋司・遠藤誠一・北澤雅志・丸山祥輝・山下朋弘・黒井 隆・吉村秀文・米田昌弘（ルネサステクノロジ） SDM2008-161 |
B18H22注入のミリ秒アニールに対する適用性を調べた。ミリ秒アニールとスパイクアニールのフローを持つPMOSFETにお... [more] | SDM2008-161 pp.37-40 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 15:05 |
東京 | 機械振興会館 | ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現 ○亀代典史・渡部隆夫・石井智之・峰 利之（日立）・佐野聡明（ルネサス北日本セミコンダクタ）・伊部英史・秋山 悟（日立）・柳沢一正・一法師隆志・岩松俊明・高橋保彦（ルネサステクノロジ） SDM2008-136 ICD2008-46 |
SESO (Single Electron Shut-off)トランジスタのプロセスを見直し、ロジックプロセス互換性を実... [more] | SDM2008-136 ICD2008-46 pp.47-52 |
| ICD | 2008-04-18 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］自動車用MCU対応8kB EEPROMエミュレーションデータフラッシュモジュールと混載フラッシュの動向 ○河井伸治・細金 明・久家重博・阿部俊広・橋本康平・大石 司・辻 直樹・榊原清彦・野口健二（ルネサステクノロジ） ICD2008-9 |
この論文は、メモリセルとして2つの独立したチャンネルを持つDual-channel NOR-type flash mem... [more] | ICD2008-9 pp.45-50 |
| SDM, VLD (共催) |
2007-10-31 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル 黄田 剛・○大川眞一・増田弘生（ルネサステクノロジ） VLD2007-67 SDM2007-211 |
微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング... [more] | VLD2007-67 SDM2007-211 pp.35-39 |
| SDM, VLD (共催) |
2007-10-31 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリングの動向 ○増田弘生・黄田 剛・大川眞一（ルネサステクノロジ） VLD2007-69 SDM2007-213 |
微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング... [more] | VLD2007-69 SDM2007-213 pp.47-54 |
| ICD, SDM (共催) |
2007-08-23 09:20 |
北海道 | 北見工業大学 | 54倍速AACエンコードを実現するヘテロジニアスマルチコアアーキテクチャの検討 ○鹿野裕明（日立/早大）・伊藤雅樹・戸高貴司・津野田賢伸・兒玉征之・小野内雅文・内山邦男（日立）・小高俊彦（日立/早大）・亀井達也・永濱 衛・草桶 学・新田祐介（ルネサステクノロジ）・和田康孝・木村啓二・笠原博徳（早大） SDM2007-143 ICD2007-71 |
汎用プロセッサ(CPU) コアとアクセラレータ(ACC) コアを複数個集積したヘテロジニアスマルチコアプロセッサ(HMC... [more] | SDM2007-143 ICD2007-71 pp.11-16 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2007-07-26 09:20 |
兵庫 | 神戸大学瀧川記念学術交流会館 | 1V以下で動作可能なトリミングフリーCMOSバンドギャップ基準電圧発生回路 奥田裕一・○塚本隆幸・平木 充・堀口真志・伊藤崇泰（ルネサステクノロジ） ICD2007-39 |
本稿では、1V以下で動作可能なトリミングフリーCMOSバンドギャップ基準電圧発生回路を提案する。提案するバンドギャップ基... [more] | ICD2007-39 pp.11-15 |
| ICD | 2007-04-12 11:10 |
大分 | 大分県・湯布院・七色の風 | ［招待講演］書換え電流１００μA、書換え速度４１６kB/sで動作する混載向け５１２kB相変化メモリ ○小田部 晃・半澤 悟（日立）・北井直樹（日立超LSIシステムズ）・長田健一・松井裕一・松崎 望・高浦則克（日立）・茂庭昌弘（ルネサステクノロジ）・河原尊之（日立） ICD2007-5 |
0.13μm，1.5V CMOS技術を用いて，混載向け512kB相変化メモリを試作した。既開発の低電力相変化メモリセルを... [more] | ICD2007-5 pp.23-28 |
| MW, ED (共催) |
2007-01-17 09:45 |
東京 | 機械振興会館 | NTCサーミスタを用いたW-CDMA用PAモジュールの利得の温度特性改善 ○栗山 哲（日立）・湯山茂浩（ルネサステクノロジ）・大西正己・松本秀俊（日立）・田上知紀・大部 功（ルネサステクノロジ） |
W-CDMA携帯電話端末用PAモジュールにおける利得の温度特性改善の検討結果を報告する。利得制御バイアス回路を用いてトラ... [more] | ED2006-200 MW2006-153 pp.1-5 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-29 13:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | ［特別講演］SystemVerilogチュートリアル ○浜口加寿美（松下電器）・明石貴昭（日本シノプシス）・湯井丈晴（沖ネットワークエルエスアイ）・後藤謙治（日本ケイデンス・デザイン・システムズ）・岡本実幸（三洋半導体）・杉浦正志（図研）・土屋丈彦（東芝）・千綿幸雄（富士通）・竹田津弘州（松下電器）・李 健道（メンター・グラフィックス・ジャパン）・高嶺美夫（ルネサステクノロジ） |
[more] | VLD2006-66 DC2006-53 RECONF2006-38 pp.1-13 |
| ICD | 2005-05-27 13:00 |
兵庫 | 神戸大学 | シングルチップSi-LDMOSによるGSM用パワーアンプ ○清水敏彦・松永良国・櫻井 智（ルネサステクノロジ）・吉田 功（ATN）・堀田正生（武蔵工大） |
クアッドバンド対応の欧州携帯電話(GSM)向けのパワーアンプを、整合回路と全ての制御回路をオンチップ集積化したチップサイ... [more] | ICD2005-32 pp.25-29 |
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