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(第二種) A: 基礎・境界
(第二種) N: NOLTA
(第二種) B: 通信
(第二種) C: エレクトロニクス
(第二種) D: 情報・システム
(第二種) H: ヒューマンCG
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シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)
人工知能と知識処理研究会 (AI)
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情報通信システムセキュリティ研究会 (ICSS)
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サービスコンピューティング研究会 (SC)
音声研究会 (SP)
ソフトウェアサイエンス研究会 (SS)
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ヒューマン情報処理研究会 (HIP)
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シリコンフォトニクス研究会 (SIPH)
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バイオ・マイクロシステム研究会 (IEE-BMS)
通信研究会 (IEE-CMN)
誘電・絶縁材料研究会 (IEE-DEI)
電子デバイス技術委員会 (IEE-EDD)
電子材料研究会 (IEE-EFM)
電磁環境技術委員会 (IEE-EMC)
電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
家電・民生技術委員会 (IEE-HCA)
産業電力電気応用研究会(解散) (IEE-IEA)
次世代産業システム (IEE-IIS)
情報システム研究会 (IEE-IS)
ITS研究会 (IEE-ITS)
マグネティックス研究会 (IEE-MAG)
医用・生体工学技術委員会 (IEE-MBE)
マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
光・量子デバイス技術委員会 (IEE-OQD)
スマートファシリティ研究会 (IEE-SMF)
半導体電力変換研究会 (IEE-SPC)
固体光源分科会 (IEIJ-SSL)
シリコンテクノロジー分科会 (JSAP-silicon)
立体映像技術研究会 (ITE-3DMT)
映像表現&コンピュータグラフィックス研究会 (ITE-AIT)
放送技術研究会 (ITE-BCT)
コンシューマエレクトロニクス研究会 (ITE-CE)
ヒューマンインフォメーション研究会 (ITE-HI)
情報ディスプレイ研究会 (ITE-IDY)
情報センシング研究会 (ITE-IST)
メディア工学研究会 (ITE-ME)
マルチメディアストレージ研究会 (ITE-MMS)
スポーツ情報処理研究会 (ITE-SIP)
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アルゴリズム研究会 (IPSJ-AL)
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コンピュータと教育研究会 (IPSJ-CE)
コンピュータグラフィックスとビジュアル情報学研究会 (IPSJ-CGVI)
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コンピュータセキュリティ研究会 (IPSJ-CSEC)
コンピュータビジョンとイメージメディア研究会 (IPSJ-CVIM)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
DC
2024-02-28
13:40
東京
機械振興会館
深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法
○
塩谷晃平
・
西川竜矢
・
魏 少奇
・
王 森レイ
・
甲斐 博
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2023-98
マルチサイクルBISTは,スキャンパターンごとに複数回のキャプチャを実行するテスト方式であり、インシステムテストにおける...
[more]
DC2023-98
pp.23-28
VLD
,
DC
,
RECONF
,
ICD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催)
[詳細]
2023-11-16
16:45
熊本
くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
メモリズムパターンマッチングアクセラレータのFPGA実装と性能評価
○
本田志遠
・
西川竜矢
・
周 細紅
・
王 森レイ
・
甲斐 博
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
井上克己
(
エイ・オー・テクノロジーズ
)
VLD2023-61 ICD2023-69 DC2023-68 RECONF2023-64
[more]
VLD2023-61
ICD2023-69
DC2023-68
RECONF2023-64
pp.162-167
DC
2023-02-28
14:25
東京
機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法
○
魏 少奇
・
塩谷晃平
・
王 森レイ
・
甲斐 博
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2022-87
大規模集積回路のテスト品質を向上するためには,回路の中に可観測性や可制御性を向上できるテストポイント(Test Poin...
[more]
DC2022-87
pp.27-32
DC
2021-02-05
14:25
ONLINE
オンライン開催
マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
○
中岡典弘
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
DC2020-75
[more]
DC2020-75
pp.36-41
VLD
,
DC
,
RECONF
,
ICD
,
IPSJ-SLDM
(連催)
(併催)
[詳細]
2020-11-17
11:20
ONLINE
オンライン開催
マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
○
環 輝
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
[more]
VLD2020-15
ICD2020-35
DC2020-35
RECONF2020-34
pp.24-29
DC
2020-02-26
10:50
東京
機械振興会館
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
○
中西遼太郎
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2019-88
[more]
DC2019-88
pp.13-18
DC
2020-02-26
11:35
東京
機械振興会館
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
○
青野智己
・
中岡典弘
・
周 細紅
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
DC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である...
[more]
DC2019-89
pp.19-24
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
,
IPSJ-EMB
(連催)
CPSY
,
IPSJ-ARC
(連催)
ICD
,
IE
(共催)
RECONF
(併催)
[詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛
愛媛県男女共同参画センター
確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘
・
青野智己
・○
工藤壮司
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
VLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い...
[more]
VLD2019-45
DC2019-69
pp.145-150
DC
2019-02-27
14:05
東京
機械振興会館
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
○
青野智己
・
Hanan T.Al-Awadhi
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
岩田浩幸
・
前田洋一
・
松嶋 潤
(
ルネサス エレクトロニクス
)
DC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな...
[more]
DC2018-79
pp.49-54
DC
2018-02-20
16:10
東京
機械振興会館
メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
○
王 森レイ
・
小川達也
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
佐藤正幸
・
勝 満徳
(
TRL
)・
関口象一
(
太陽誘電
)
DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl...
[more]
DC2017-87
pp.61-66
SS
,
MSS
(共催)
2018-01-18
15:45
広島
広島市立大学サテライトキャンパス
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査
○
稲元 勉
・
樋上喜信
(
愛媛大
)
MSS2017-57 SS2017-44
本稿では,組合せ回路の故障検出用テストパターン集合の故障検出率向上を目的とし,そのために計算機代数システムを利用する試み...
[more]
MSS2017-57
SS2017-44
pp.59-64
ASN
2017-05-25
10:50
東京
東大 生産技術研究所
赤潮発生予測のための海域情報報告アプリケーションのマルチプラットフォーム化
○
遠藤慶一
・
楠野和也
・
藤橋卓也
・
黒田久泰
・
樋上喜信
・
小林真也
(
愛媛大
)
ASN2017-3
養殖産業において,赤潮は,養殖魚の大量死や品質劣化をもたらすため,大きな問題となっている.この問題を解決するため,先行研...
[more]
ASN2017-3
pp.13-18
DC
2017-02-21
11:35
東京
機械振興会館
論理回路の組込み自己診断に関する提案
○
香川敬祐
・
矢野郁也
・
王 森レイ
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)・
大竹哲史
(
大分大
)
DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー...
[more]
DC2016-76
pp.11-16
DC
2016-02-17
10:50
東京
機械振興会館
論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
○
藤谷和依
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御...
[more]
DC2015-88
pp.13-18
DC
2016-02-17
15:15
東京
機械振興会館
三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
○
王 森レイ
・
香川敬祐
(
愛媛大
)・
亀山修一
(
富士通
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2015-94
[more]
DC2015-94
pp.49-54
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
(連催)
ICD
,
CPM
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2015-12-01
14:40
長崎
長崎県勤労福祉会館
隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
○
伊勢幸太郎
・
四柳浩之
・
橋爪正樹
(
徳島大
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に...
[more]
VLD2015-42
DC2015-38
pp.31-36
VLD
,
DC
,
IPSJ-SLDM
(連催)
ICD
,
CPM
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2015-12-03
11:40
長崎
長崎県勤労福祉会館
アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について
○
王 森レイ
・
香川敬祐
(
愛媛大
)・
亀山修一
(
富士通
)・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
VLD2015-65 DC2015-61
[more]
VLD2015-65
DC2015-61
pp.177-182
MSS
,
CAS
(共催)
IPSJ-AL
(連催)
[詳細]
2015-11-21
14:35
鹿児島
指宿市民会館 大会議室
静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討
○
稲元 勉
・
樋上喜信
(
愛媛大
)
CAS2015-60 MSS2015-34
本稿では,マルチカーエレベータシステムの効率的運行を求める問題である,マルチカーエレベータ運行計画問題に関する研究の一環...
[more]
CAS2015-60
MSS2015-34
pp.129-134
DC
2015-02-13
16:25
東京
機械振興会館
IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法
○
王 森レイ
・
井上大画
・
ハナン ティ アル アワディー
・
樋上喜信
・
高橋 寛
(
愛媛大
)
DC2014-87
[more]
DC2014-87
pp.55-60
MSS
2014-03-06
16:45
愛媛
愛媛大学工学部
ゾーニングによるエレベータ運行の最適性に関する数値的調査
○
稲元 勉
・
樋上喜信
・
小林真也
(
愛媛大
)
MSS2013-82
本稿では,ゾーニングを用いて得られるエレベータ運行の最適性を数値的に調べた結果を報告する.
ゾーニングは,エレベー...
[more]
MSS2013-82
pp.43-48
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