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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2021-02-05
14:25
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおける故障検出率の推定法
中岡典弘王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2020-75
 [more] DC2020-75
pp.36-41
VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM
(連催)
(併催) [詳細]
2020-11-17
11:20
ONLINE オンライン開催 マルチサイクルテストにおけるスキャンパターン削減指向制御ポイントの選定法
環 輝王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
 [more] VLD2020-15 ICD2020-35 DC2020-35 RECONF2020-34
pp.24-29
DC 2020-02-26
10:50
東京 機械振興会館 機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討
中西遼太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2019-88
 [more] DC2019-88
pp.13-18
DC 2020-02-26
11:35
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法
青野智己中岡典弘周 細紅王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2019-89
車載システムの機能安全を保障するためには,システムの起動時に回路を検査するパワーオンセルフテスト(POST)が必要である... [more] DC2019-89
pp.19-24
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
16:10
愛媛 愛媛県男女共同参画センター 確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
中岡典弘青野智己・○工藤壮司王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスVLD2019-45 DC2019-69
先進自動運転システムの機能安全を保障するために , システムの起動時に論理組込み自己テスト (LBIST)
機構を用い... [more]
VLD2019-45 DC2019-69
pp.145-150
DC 2019-02-27
14:05
東京 機械振興会館 マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのFFトグル制御ポイントの選択法
青野智己Hanan T.Al-Awadhi王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・岩田浩幸前田洋一松嶋 潤ルネサス エレクトロニクスDC2018-79
車載システムの機能安全を保証するためには,システムの起動時にテストを実行するパワーオンセルフテスト(POST)が必要とな... [more] DC2018-79
pp.49-54
DC 2018-02-20
16:10
東京 機械振興会館 メモリベース再構成デバイスMRLDにおけるブリッジ接続故障のテスト方法
王 森レイ小川達也樋上喜信高橋 寛愛媛大)・佐藤正幸勝 満徳TRL)・関口象一太陽誘電DC2017-87
MRLD とは、メモリ機能も備える新しい再構成可能論理デバイスである。MRLD の基本要素となるMLUT(Multipl... [more] DC2017-87
pp.61-66
SS, MSS
(共催)
2018-01-18
15:45
広島 広島市立大学サテライトキャンパス 組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査
稲元 勉樋上喜信愛媛大MSS2017-57 SS2017-44
本稿では,組合せ回路の故障検出用テストパターン集合の故障検出率向上を目的とし,そのために計算機代数システムを利用する試み... [more] MSS2017-57 SS2017-44
pp.59-64
ASN 2017-05-25
10:50
東京 東大 生産技術研究所 赤潮発生予測のための海域情報報告アプリケーションのマルチプラットフォーム化
遠藤慶一楠野和也藤橋卓也黒田久泰樋上喜信小林真也愛媛大ASN2017-3
養殖産業において,赤潮は,養殖魚の大量死や品質劣化をもたらすため,大きな問題となっている.この問題を解決するため,先行研... [more] ASN2017-3
pp.13-18
DC 2017-02-21
11:35
東京 機械振興会館 論理回路の組込み自己診断に関する提案
香川敬祐矢野郁也王 森レイ樋上喜信高橋 寛愛媛大)・大竹哲史大分大DC2016-76
近年,自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している.自動車の機能安全を保証するためには,フィー... [more] DC2016-76
pp.11-16
DC 2016-02-17
10:50
東京 機械振興会館 論理値割当隣接線の選択による断線故障用テスト生成時間の削減
藤谷和依四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-88
半導体プロセスの微細化に伴って,配線およびビアの断線故障が増加している.断線故障は故障線論理値を隣接線間容量によって制御... [more] DC2015-88
pp.13-18
DC 2016-02-17
15:15
東京 機械振興会館 三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法のアナログ回路設計について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2015-94
 [more] DC2015-94
pp.49-54
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
14:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 隣接線の信号遷移による遅延変動を用いる半断線故障の判別法について
伊勢幸太郎四柳浩之橋爪正樹徳島大)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-42 DC2015-38
IC 内で発生する半断線故障は抵抗成分を持ち,故障の影響は微小遅延として顕在化する.また,トランジスタのばらつきの影響に... [more] VLD2015-42 DC2015-38
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
11:40
長崎 長崎県勤労福祉会館 アナログバウンダリスキャンを用いた三次元積層後のTSV抵抗の精密計測法の実装について
王 森レイ香川敬祐愛媛大)・亀山修一富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大VLD2015-65 DC2015-61
 [more] VLD2015-65 DC2015-61
pp.177-182
MSS, CAS
(共催)
IPSJ-AL
(連催) [詳細]
2015-11-21
14:35
鹿児島 指宿市民会館 大会議室 静的マルチカーエレベータ運行計画問題のためのトリップに基づく整数線形計画モデルに関する一検討
稲元 勉樋上喜信愛媛大CAS2015-60 MSS2015-34
本稿では,マルチカーエレベータシステムの効率的運行を求める問題である,マルチカーエレベータ運行計画問題に関する研究の一環... [more] CAS2015-60 MSS2015-34
pp.129-134
DC 2015-02-13
16:25
東京 機械振興会館 IR-dropを考慮した抵抗性オープン故障の診断用パターンの選択手法
王 森レイ井上大画ハナン ティ アル アワディー樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2014-87
 [more] DC2014-87
pp.55-60
MSS 2014-03-06
16:45
愛媛 愛媛大学工学部 ゾーニングによるエレベータ運行の最適性に関する数値的調査
稲元 勉樋上喜信小林真也愛媛大MSS2013-82
本稿では,ゾーニングを用いて得られるエレベータ運行の最適性を数値的に調べた結果を報告する.

ゾーニングは,エレベー... [more]
MSS2013-82
pp.43-48
DC 2012-06-22
14:20
東京 機械振興会館 [招待講演]シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み
高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2012-12
本研究では,電磁界シミュレーションおよび半断線故障TEGの製作・測定に基づいてシグナルインティグリティ不良の原因となる配... [more] DC2012-12
pp.21-26
DC 2012-02-13
14:00
東京 機械振興会館 バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 ~ 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 ~
亀山修一富士通/愛媛大)・馬場雅之富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大DC2011-81
エレクトロニクス製品の小型高機能化に伴い実装プリント板の高密度化が増々進んでおり,実装不良を容易に検出できるバウンダリス... [more] DC2011-81
pp.31-35
CS, NS, IN
(併催)
2011-09-02
15:45
宮城 東北大学 マルチファイバWDMネットワークにおける後方型波長予約を用いた経路及び波長選択手法
平田孝志デウィアニ樋上喜信小林真也愛媛大NS2011-79
 [more] NS2011-79
pp.115-120
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