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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2015-06-16
14:10		 東京 機械振興会館 地下3階2号室 BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法
○錦織　誠・山崎紘史・細川利典・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大） DC2015-16		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと決定的テスト生成を組... [more] DC2015-16
pp.1-6
DC 2014-02-10
15:10		 東京 機械振興会館 BASTにおけるシフトデータ量削減法
○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大） DC2013-87		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] DC2013-87
pp.49-54
DC 2014-02-10
15:35		 東京 機械振興会館 BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法
○森　凌太・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2013-88		 スキャンベースBIST の技術を応用した手法として,BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し... [more] DC2013-88
pp.55-60
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]		 2013-11-28
14:10		 鹿児島 鹿児島県文化センター BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法
○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）・中尾教伸（読売理工医療福祉専門学校） VLD2013-85 DC2013-51		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] VLD2013-85 DC2013-51
pp.171-176
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]		 2011-11-29
09:50		 宮崎 ニューウェルシティ宮崎 BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法
○陳　贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2011-73 DC2011-49		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] VLD2011-73 DC2011-49
pp.127-132
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]		 2011-11-29
10:15		 宮崎 ニューウェルシティ宮崎 テストデータ量削減のための反転信号シフト型BAST構成とテストパターン生成法
○岡田靖彦・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2011-74 DC2011-50		 スキャンベースBIST の技術を応用した手法として，BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し... [more] VLD2011-74 DC2011-50
pp.133-138
DC 2010-06-25
15:15		 東京 機械振興会館 ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法
○陳　贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-11		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] DC2010-11
pp.19-24
DC 2009-02-16
15:20		 東京 機械振興会館 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～
○万　玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2008-76		 LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組み込み自己テストと自動テスト生成を組... [more] DC2008-76
pp.49-54
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