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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-30 14:20 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
遅延検査容易化設計を用いるPUF回路の周囲温度による動作性能調査 ○大濱瑛祐・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）  VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69 |
本研究では,遅延検査容易化設計をセキュリティ技術としても機能させることを目的として,遅延検査容易化回路と PUF 回路を... [more] | VLD2022-46 ICD2022-63 DC2022-62 RECONF2022-69 pp.156-161 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:00 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部の分割による検査時間の削減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2018-56 DC2018-42 |
ICの新たな集積方法として，TSV(Through-Silicon-Via)を用いた3次元積層技術が注目されている． ... [more] |
VLD2018-56 DC2018-42 pp.119-124 |
| DC | 2018-02-20 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減 ○平井智士・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2017-79 |
3次元積層ICにおけるダイ間配線の新しい実装方法として，TSV(Through-Silicon-Via)が注目されている... [more] | DC2017-79 pp.13-18 |
| DC | 2012-02-13 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法 ○内田行紀・村田絵理（奈良先端大）・大竹哲史（大分大/JST）・中島康彦（奈良先端大） DC2011-83 |
Quasi-Delay-Insensitive（QDI）設計は非同期式回路の現実的な実現手法の一つとして注目されている．... [more] | DC2011-83 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 09:00 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル ○志水 昂・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2011-71 DC2011-47 |
LSIのテストを容易にするために，多くのテスト設計・テスト容易化設計(DFT) が提案されている． 本論文では，LSI... [more] |
VLD2011-71 DC2011-47 pp.115-120 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 13:45 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察 ○天野雄二郎・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2009-54 DC2009-41 |
LSI の微細化による過渡故障および永久故障の増加に伴い，LSIチップの歩留まり低下と市場不良の増加が問題となっている．... [more] | VLD2009-54 DC2009-41 pp.89-94 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:55 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法 ○森永広介・岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2007-72 DC2007-27 |
無閉路順序回路のクラスは$\tau^2$-boundedであり，実用的にテスト容易と考えられている\cite{tau1}... [more] | VLD2007-72 DC2007-27 pp.13-18 |
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