Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380
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DC2007-67
CMOS LSIのESD/Latch-Up故障の解析 ～ 実データでの故障モード解析 ～
○小日向秀雄・新井雅之・福本 聡（首都大東京）
pp. 1 - 5
DC2007-68
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法
高橋 寛・樋上喜信・相京 隆・門山周平・○渡部哲也・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
pp. 7 - 12
DC2007-69
遷移故障に対する診断用テスト生成法
相京 隆（愛媛大/半導体理工学研究センター）・樋上喜信・高橋 寛・○吉川 達・高松雄三（愛媛大）
pp. 13 - 18
DC2007-70
マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成
大森悠翔・○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大）
pp. 19 - 24
DC2007-71
故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究
○冨田 健・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）
pp. 25 - 31
DC2007-72
スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察
○周藤明史・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 33 - 38
DC2007-73
平衡構造を利用した安全なスキャン設計
○長谷川宗士・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）
pp. 39 - 44
DC2007-74
二線式論理を用いたFPGAのソフトエラーに対するフォールトセキュア性
○三浦健宏・難波一輝・伊藤秀男（千葉大）
pp. 45 - 50
DC2007-75
演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について
○塩道寛貴・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）
pp. 51 - 56
DC2007-76
スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価
○伊藤侑磨・吉村正義・安浦寛人（九大）
pp. 57 - 62
DC2007-77
高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定
○池田直嗣・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）
pp. 63 - 68
DC2007-78
テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法
○井上諒一・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大）
pp. 69 - 76
DC2007-79
テストパターンの静的圧縮における厳密解と貪欲解の比較
○八木澤 圭・山崎浩二（明大）・細川利典（日大）・玉木久夫（明大）
pp. 77 - 82
DC2007-80
ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価
○土屋秀和・阿部高也・浅川 毅（東海大）
pp. 83 - 88
DC2007-81
ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察
○遠藤辰朗・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京）
pp. 89 - 94
DC2007-82
複数の観測トランジスタとデータサンプリングを使用したアナログ回路の診断
○加藤二郎・三浦幸也（首都大東京）
pp. 95 - 100
DC2007-83
周期信号の自己訂正法
○三浦幸也（首都大東京）
pp. 101 - 106
今後、次の点を修正する予定です。(1)欠けている表紙画像・奥付画像を補完いたします。(2)欠けている発行日の情報を補完いたします。
注： 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります．