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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ, IEE-EMC, IEE-SPC (連催) |
2023-05-12 17:20 |
沖縄 | 沖縄県市町村自治会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
分岐の少ない架空配電系統におけるTDR波形に対する深層学習を用いた事故点標定 ○松嶋 徹・永田大樹・福本幸弘（九工大）・久門尚史（京大）・金成宇輝・飯沼剛志・西廣雄介（関西電力送配電）・渡久地 真（ダイヘン）  EMCJ2023-11 |
架空配電系統での事故や故障探査の迅速化のためにTDR法を利用した装置の開発が進められている。 しかし分岐がある線路では... [more] |
EMCJ2023-11 pp.25-30 |
| HWS | 2023-04-14 15:35 |
大分 | 湯布院公民館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
物体検出DNNに対するイメージセンサインターフェースMIPIへのフォルト注入によってトリガする物体生成バックドア攻撃 ○田窪拓海・大山達哉・吉田康太・大倉俊介・藤野 毅（立命館大） HWS2023-6 |
学習データへのポイズニングと推論画像への特定の模様(トリガマーク)の付加で誤分類を誘発させるバックドア攻撃は，深層学習(... [more] | HWS2023-6 pp.20-25 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| R | 2021-11-30 14:50 |
ONLINE | オンライン開催 | フォールト発見数モデルに基づいた安全関連系ソフトウェアの安全度解析 ○井上真二（関西大）・藤原隆次（SRATECH Lab）・山田 茂（鳥取大） R2021-38 |
電気・電子・プログラマブル電子（E/E/PE）安全関連系は，機能的側面からシステム全体の安全性を確保するような機能安全を... [more] | R2021-38 pp.24-29 |
| R | 2021-05-28 15:25 |
ONLINE | オンライン開催 | 一般化非線形ユール過程に基づいたソフトウェア信頼性解析 ○李 思橋・土肥 正・岡村寛之（広島大） R2021-7 |
本稿では，一般化非線形ユール過程として分類される2種類のソフトウェア信頼性モデルについて考察する．これらのモデルを幾何級... [more] | R2021-7 pp.35-40 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| EE | 2019-01-16 11:00 |
熊本 | 熊本市国際交流会館 | 太陽電池ストリング測定データを用いたストリング回路モデルパラメータ推定による故障検出 ○原 重臣・嘉数 誠（佐賀大） EE2018-39 |
メガソーラー発電所のストリング故障検出、故障種類判別を目標にする。メガソーラー発電所で実用的に測定可能なストリングの直流... [more] | EE2018-39 pp.7-11 |
| EMCJ | 2016-09-16 11:55 |
兵庫 | 兵庫県立大学 | 電力配電線の事故種別特定のためのモード変換に着目したTDR法 ○松嶋 徹・久門尚史・和田修己（京大）・大恵慎平・笹岡毅志・酒井康晴（関西電力） EMCJ2016-52 |
架空配電系統において断線などの事故が発生した場合に、事故点や事故種別を早急に特定する必要がある。 停電エリア内の配電線... [more] |
EMCJ2016-52 pp.13-18 |
| DC | 2014-02-10 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | TDC組込み型バウンダリスキャン回路による遅延検出能力評価 ○櫻井浩希・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2013-80 |
ディープサブミクロン(DSM)ICでは，抵抗性ショート欠陥やオープン欠陥が従来の縮退故障の振る舞いをせず，遅延として現れ... [more] | DC2013-80 pp.7-12 |
| KBSE | 2013-05-31 14:45 |
神奈川 | 慶應義塾大学 | ヒューマンエラーに対する手順書の耐性検査 ○永藤直行（プレシステム）・渡部卓雄（東工大） KBSE2013-11 |
作業手順がヒューマンエラーに対して耐性があるかどうか検査するためにモデル検証の手法を利用する．作業手順には，ヒューマンエ... [more] | KBSE2013-11 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 ○楠山友紀乃・山崎達也・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） VLD2012-105 DC2012-71 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により，テストパターン数が増大して... [more] | VLD2012-105 DC2012-71 pp.267-272 |
| DC | 2012-06-22 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-9 |
従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大... [more] | DC2012-9 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:30 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | TDCを組み込んだ遅延故障検出用テスト容易化設計について ○槇本浩之・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2011-84 DC2011-60 |
本研究では，微小遅延欠陥を検出するためにTDC(Time-to-Digital Converter) を組み込んだ遅延故... [more] | VLD2011-84 DC2011-60 pp.185-190 |
| R | 2011-10-21 13:30 |
福岡 | 九州大学箱崎キャンパス（福岡市） | 異常検知のためのデータベースモデルを用いた正常状態予測法の予測精度の事前評価 ○田中耕平・藤原朱実・木村直樹・柘植義文（九大） R2011-27 |
負荷変動を伴うプラントでは正常値が一定でないため、異常検知を行うことは難しいが、プラントの正常状態の予測が行えれば，異常... [more] | R2011-27 pp.1-6 |
| DC, CPSY (併催) |
2011-07-28 17:00 |
鹿児島 | かごしま県民交流センター | オープンシステムディペンダビリティ支援のための逸脱検知 ○菅谷みどり（横浜国大）・高村博紀（JST）・倉光君郎（横浜国大） DC2011-18 |
近年, 情報システムが社会基盤として重要な役割を果たす場面が多く, ユーザの多様なニーズに適合するため高機能化し, ... [more] |
DC2011-18 pp.19-24 |
| DC | 2011-06-24 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | ランダムパターンテストにおける故障検出率分布に関する考察 福本 聡・○新井雅之・原 慎哉・岩崎一彦（首都大東京） DC2011-8 |
本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率の分布について解析する． 各故障に関する検出と未検出の事象を，それぞ... [more] |
DC2011-8 pp.1-4 |
| DC | 2011-02-14 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2010-66 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている．そのため，従来の縮退故障およ... [more] | DC2010-66 pp.45-50 |
| R | 2010-12-17 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | ソフトウェアテストにおける残存フォールト数の推定 ～ パラメトリックブートストラップ法 ～ 金石俊雄・○土肥 正（広島大） R2010-41 |
標本データのリサンプリングを行うことで新たな標本を複製し, 推定量の統計的性質を調べるブートストラップ法は, 少ないデー... [more] | R2010-41 pp.23-28 |
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