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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-12-08 13:50 |
長崎 | アルカスSASEBO （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法 ○曽根隆暢・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  DC2023-88 |
近年，超大規模集積回路の大規模化により，多量化したテストパターンをテスタに保存することは非現実的になっている．組込み自己... [more] | DC2023-88 pp.7-12 |
| DC, SS (共催) |
2019-10-24 16:00 |
熊本 | 熊本大学 | n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） SS2019-19 DC2019-47 |
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] | SS2019-19 DC2019-47 pp.37-42 |
| DC | 2017-12-15 15:30 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター | FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2017-75 |
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため，論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] | DC2017-75 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫（九工大） VLD2014-109 DC2014-63 |
本論文では，FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる．半導体技術の進歩により，微細化，高... [more] | VLD2014-109 DC2014-63 pp.245-250 |
| DC | 2013-12-13 13:25 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 ○佐藤康夫・松浦宗寛・荒川 等・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2013-69 |
FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する．FPGAのアプリケーション依存テスト... [more] | DC2013-69 pp.7-12 |
| DC | 2012-06-22 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察 ○深澤祐樹・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） DC2012-11 |
BIST回路（テスト生成器や応答圧縮器など）の故障は， 被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more] |
DC2012-11 pp.15-20 |
| DC | 2011-06-24 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について ○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2011-9 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案し... [more] | DC2011-9 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 ○岩本由香・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-63 DC2010-30 |
近年，LSIテスト手法の１つとして組込み自己テストが利用されている．組込み自己テストでは，LSI内部にテストベクトル系列... [more] | VLD2010-63 DC2010-30 pp.43-48 |
| DC, CPSY (共催) |
2009-04-21 15:45 |
東京 | 首都大秋葉原サテライトキャンパス | 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について ○深澤祐樹・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2009-7 DC2009-7 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適... [more] | CPSY2009-7 DC2009-7 pp.37-42 |
| IA, SITE (共催) |
2009-03-06 10:10 |
熊本 | 阿蘇山（熊本県） | 韓国でのインターネット倫理教育現の現状と国際協力方案 ○朴 政鎬（鮮文大）・鄭 鎮旭（成均館大）・姜 安求・徐 載哲（韓国インターネット振興院政策企画団） SITE2008-84 IA2008-107 |
最近、インターネットの普及によりインターネット上で多様な問題が発生しており、社会的に大きなトラブルを引き起こしている。こ... [more] | SITE2008-84 IA2008-107 pp.237-240 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 16:35 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察 ○藤井昂志・市原英行・井上智生（広島市大） |
マルチコンテキスト型の動的再構成可能なプロセッサでは，1つのタスクの実行中に複数のコンテキストを切り替えることで高い面積... [more] | VLD2006-62 DC2006-49 pp.65-70 |
| ICD, IPSJ-ARC (共催) |
2006-06-08 15:30 |
神奈川 | NEC玉川ルネッサンスシティ | プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計 ○中里昌人・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
本稿では，テンプレートを利用したテストプログラム生成法から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避... [more] | ICD2006-48 pp.49-54 |
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