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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-18
09:50
福岡 北九州学術研究都市 [招待講演]CベースプログラマブルHWコア「STPエンジン」の現状と展望
本村真人NECエレクトロニクスRECONF2008-48
 [more] RECONF2008-48
pp.51-56
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-19
11:15
福岡 北九州学術研究都市 電流容量比を用いたデカップリング容量分配手法
小林 進土居直史NECエレクトロニクスCPM2008-95 ICD2008-94
近年のLSIの高速化および低電圧化により電源ノイズの問題が顕在化しており、電源ノイズを抑制するための効果的な手段としてデ... [more] CPM2008-95 ICD2008-94
pp.37-42
ICD, ITE-IST
(共催)
2008-10-22
14:45
北海道 北海道大学 情報教育館3F Cyclic方式D/Aコンバータの特徴を生かしたリニアリティ特性改善手法
齋藤 航小林英尚松本哲也四柳道夫NECエレクトロニクスICD2008-62
Cyclic方式D/Aコンバータ(DAC)の単調性を保証できるようにするために、このDACの特徴を生かしながら、リニアリ... [more] ICD2008-62
pp.19-24
ICD, ITE-IST
(共催)
2008-10-24
08:30
北海道 北海道大学 情報教育館3F 素子ばらつきを考慮した温度センサ回路の最適化設計
田島英幸小山哲弘山口 基早田征明四柳道夫NECエレクトロニクスICD2008-78
 [more] ICD2008-78
pp.113-118
ICD, SDM
(共催)
2008-07-17
09:50
東京 機械振興会館 45nm世代SRAM向けHfSiOxを用いたしきい値電圧ばらつきの低減
筒井 元角田一晃刈谷奈由太秋山 豊阿部倫久丸山信也深瀬 匡鈴木三惠子山縣保司今井清隆NECエレクトロニクスSDM2008-130 ICD2008-40
 [more] SDM2008-130 ICD2008-40
pp.11-16
ICD, SDM
(共催)
2008-07-17
10:55
東京 機械振興会館 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術
野口宏一朗野瀬浩一NEC)・尾野年信NECエレクトロニクス)・水野正之NECSDM2008-132 ICD2008-42
プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はL... [more] SDM2008-132 ICD2008-42
pp.23-28
VLD, CAS, SIP
(共催)
2008-06-26
13:10
北海道 北海道大学 高等教育機能開発センター 音声認識第1パス部のC言語設計とその最適化
江口彰彦近畿大)・才辻 誠NECエレクトロニクス)・橋本 丈神戸尚志近畿大CAS2008-9 VLD2008-22 SIP2008-43
大語彙連続音声認識では2パス方式がよく用いられており、そのうち第1パスの処理に高い処理能力が必要となる。本文では携帯端末... [more] CAS2008-9 VLD2008-22 SIP2008-43
pp.45-50
SIS 2008-06-12
16:10
北海道 旭川市国際会議場第2&第3会議室(旭川市大雪クリスタルホール内) [招待講演]技術系の人材育成 ~ 階層別人材育成対策 ~
平田雅規NECエレクトロニクスSIS2008-13
近年、若者の理工系離れが問題になっている。情報電子系の業界団体(JEITA)として各種の取り組みをしており、そのうちのい... [more] SIS2008-13
pp.71-72
ICD 2008-04-17
13:05
東京 機械振興会館 [招待講演]コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM技術
白井浩樹石川亮佑伊藤雄一北村卓也竹内麻美佐甲 隆井上 顕川崎 澄勝木信幸星崎博之桑原愼一夏目秀隆坂尾眞人谷川高穂NECエレクトロニクスICD2008-4
コンシューマエレクトロニクス向け混載DRAM デバイス技術について報告する。我々は150nm 世代より低消費電力かつ高速... [more] ICD2008-4
pp.19-24
CPM, ICD
(共催)
2008-01-18
15:20
東京 機械振興会館 感光性樹脂を用いた5μm厚めっきCuによる多層配線技術
菊池 克NEC)・副島康志NECエレクトロニクス)・石井康博NEC)・川野連也NECエレクトロニクス)・水野正之山道新太郎NECCPM2007-146 ICD2007-157
我々は,LSIと実装基板の接続領域の配線技術,5μm厚めっきCu多層配線技術及びCu配線間への陽極酸化アルミナを用いたキ... [more] CPM2007-146 ICD2007-157
pp.105-110
ED, MW
(共催)
2008-01-17
13:50
東京 機械振興会館 p+-GaAs ゲート適用HJFETを用いたBluetooth Class1向け1.8V動作PAIC
播磨史生尾藤康則高橋英匡岩田直高NECエレクトロニクスED2007-221 MW2007-152
Bluetooth Class 1 向けに1.8 Vと低電圧で動作するPAICを開発した. p+-GaAs再成長ゲート構... [more] ED2007-221 MW2007-152
pp.83-86
RECONF 2007-09-21
09:30
滋賀 立命館大学びわこくさつキャンパス (滋賀) SoPCをベースとした組込みシステムのハードウェア/ソフトウェア分割手法
島田健市NECエレクトロニクス)・○福士 将堀口 進東北大RECONF2007-23
(事前公開アブストラクト) ソフトプロセッサを用いるSoPCをベースとした組込みシステム向けの,新たなハードウェア/ソフ... [more] RECONF2007-23
pp.47-52
R 2007-09-14
11:20
高知 高知工科大学 RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行
吉澤 豊NECエレクトロニクスR2007-31
RC回路網による故障モデルを考案した。 本モデルによりショート故障、抵抗性ショート/オープン故障、オープン故障とこれらの... [more] R2007-31
pp.11-16
ICD 2007-04-12
10:40
大分 大分県・湯布院・七色の風 MIM(Metal-Insulator-Metal) キャパシタを用いた混載DRAM用デバイステクノロジー
谷川高穂山縣保司白井浩樹杉村啓世和気智子井上 顕佐甲 隆坂尾眞人NECエレクトロニクスICD2007-4
MIMキャパシタを用いた混載DRAMデバイス技術について報告する。我々は150nm世代よりLowパワーかつ高速アクセス性... [more] ICD2007-4
pp.17-22
MW, ED
(共催)
2007-01-19
10:10
東京 機械振興会館 携帯電話基地局向け歪相殺ドハティ28V動作330W GaAsヘテロ接合FETパワーアンプ
竹中 功石倉幸治高橋英匡長谷川浩一上田 隆栗原俊道麻埜和則岩田直高NECエレクトロニクス
携帯電話基地局向けに低歪ドハティ高出力増幅器を開発した。本増幅器は28V動作の150W GaAs ヘテロ接合FETにより... [more] ED2006-227 MW2006-180
pp.149-154
ICD, SIP, IE, IPSJ-SLDM
(共催)
2006-10-26
13:55
宮城 宮城県・作並温泉・一の坊 [招待講演]車載メディア処理とLSIアーキテクチャ ~ 課題と将来動向 ~
黒田一朗NECエレクトロニクス
 [more] SIP2006-93 ICD2006-119 IE2006-71
pp.57-62
ICD, SDM
(共催)
2006-08-17
10:55
北海道 北海道大学 ランプ波形分割方式を用いたオンチップサンプリングオシロスコープ
稲垣賢一東大)・ダナルドノ ドゥイ アントノソニー)・高宮 真東大)・熊代成孝NECエレクトロニクス)・桜井貴康東大
90nm CMOSプロセスにおいて、タイミング生成にランプ波形分割方式を用いた最高1psの時間分解能をもつオンチップサン... [more] SDM2006-129 ICD2006-83
pp.25-30
EMCJ, EMD
(共催)
2006-07-28
13:25
東京 機械振興会館 LSIを搭載したプリント回路基板のEMIシミュレーション
賀 文寿渡辺 毅飯塚裕一NECエレクトロニクスEMCJ2006-40 EMD2006-20
今回,実用性が高いボードレベルのEMIシミュレーション技術を開発した.本報告では,電源系に対する高周波電流及び放射電磁界... [more] EMCJ2006-40 EMD2006-20
pp.25-28
IE, SIP
(共催)
2006-04-21
14:50
東京 機械振興会館 低電力DSPを用いたH.264ビデオエンコーダ
五嶋健治幡生敦史西塚博文NEC)・松永克雅中村了一望月洋二NECエレクトロニクス)・宮崎 孝NEC
 [more] SIP2006-8 IE2006-8
pp.43-48
ICD 2006-04-14
11:40
大分 大分大学 次世代SRAMのために再定義した書き込みマージン
武田晃一池田秀寿萩原靖彦野村昌弘NEC)・小畑弘之NECエレクトロニクス
 [more] ICD2006-16
pp.85-90
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