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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, RECONF, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2014-01-29
15:40
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス オンチップリークモニタ回路を用いたNBTI測定手法の提案と有効性
佐藤貴晃宇佐美公良芝浦工大VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85
近年の微細化によって、トランジスタの経年劣化現象がLSIの正常動作を妨げる要因として顕著になってきている。そのため、この... [more] VLD2013-131 CPSY2013-102 RECONF2013-85
pp.173-178
ASN, MoNA
(併催)
2014-01-23
12:05
愛媛 ホテル奥道後 (松山市) 高齢者向け見守りサービスのモデリングに関する検討
徳永清輝佐伯幸郎柗本真佑中村匡秀神戸大ASN2013-129
日本では政府・企業によって人的リソースやIT 技術を利用した多様な高齢者向け見守りサービスが研究・開発されている.本稿で... [more] ASN2013-129
pp.65-70
SANE 2013-12-02
14:40
海外 VAST/VNSC(1日目) & Melia Hotel, Hanoi(2日目) Development of Precision Agricullture Monitoring System using Microwave Imaging Sensor
Chan Yee-KitKoo Voon-ChetMultimedia University,)・Chua Min-YamMultimedia University, MalaysiaSANE2013-82
Precision agriculture or precision farming is a farming mana... [more] SANE2013-82
pp.67-70
SIP, CAS, CS
(共催)
2013-03-14
15:10
山形 慶應大学鶴岡キャンパス(山形) [特別招待講演]デマンド・アドレッサブル・センサネットワーク ~ 要求駆動型広域センシングを目指して ~
宮崎敏明林 隆史束原恒夫Song Guo北道淳司会津大CAS2012-107 SIP2012-138 CS2012-113
筆者らは,ユーザが発した抽象的なセンシング要求を解釈し、その要求を充たすセンシングデータを保有するセンサ群を発見し、それ... [more] CAS2012-107 SIP2012-138 CS2012-113
pp.63-68
DC 2013-02-13
16:15
東京 機械振興会館 モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法
三宅庸資津森 渉佐藤康夫梶原誠司九工大)・三浦幸也首都大東京DC2012-89
VLSIの微細化に伴い,劣化による回路遅延の増加が問題となっている.劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで... [more] DC2012-89
pp.55-60
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
14:30
福岡 九州大学百年講堂 フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討
津森 渉三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大)・三浦幸也首都大東京VLD2012-101 DC2012-67
システムの信頼性の確保のために,フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を,障害の発生する前に検知する必要がある.... [more] VLD2012-101 DC2012-67
pp.243-248
NC, IPSJ-BIO
(連催)
2012-06-28
14:40
沖縄 沖縄科学技術大学院大学 サルV1における方位地図の局所構造と神経細胞の方位選択性の関係: 2光子カルシウムイメージングによる検討
池添貢司森 理也阪大)・喜多村和郎東大)・田村 弘藤田一郎阪大NC2012-11
一次視覚野(V1)の神経細胞は方位選択性を持ち、方位選択性の強さは細胞によって異なる。方位選択性細胞はその最適方位に従っ... [more] NC2012-11
pp.59-64
DC 2012-06-22
16:35
東京 機械振興会館 リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討
三宅庸資笹川拓麿佐藤康夫梶原誠司九工大)・三浦幸也首都大東京DC2012-16
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている.フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには... [more] DC2012-16
pp.45-50
DC 2012-02-13
16:20
東京 機械振興会館 フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大/JST)・三浦幸也首都大東京/JSTDC2011-86
VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による... [more] DC2011-86
pp.61-66
US 2011-11-24
16:40
静岡 東海大学清水キャンパス 海洋学部1号館2階大会議室 風速トモグラフィ法による渦風速場の準リアルタイム観測システム
多部田純一尾川直毅平澤卓也李 海悦山田 晃東京農工大US2011-76
監視領域両脇に設置した多チャンネル超音波センサによる超音波の伝搬時間の測定データをもとに、センサが囲む領域内の渦風速の時... [more] US2011-76
pp.59-63
CPSY 2010-11-12
14:50
岡山 岡山大学工学部 データを保全しない非同期的なメモリ管理機構
河合栄治下條真司NICTCPSY2010-28
メモリの大容量化により,その上に可能な限りデータを展開することで性能の向上を求める,積極的なメモリの活用方法が広く用いら... [more] CPSY2010-28
pp.17-22
ICD, ITE-IST
(連催)
2010-07-22
10:45
大阪 常翔学園大阪センター PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ
飯塚哲也名倉 徹浅田邦博東大ICD2010-24
本論文では、リング型バッファチェインとパルスカウンタを用いたプロセスばらつきモニタを提案し、その理論的解析を行う。提案回... [more] ICD2010-24
pp.15-20
LQE 2009-12-11
11:25
東京 機械振興会館 地下3階2号室 OBICモニタを使ったInAs/InP MQW-DFBレーザの安定動作の解析
竹下達也佐藤具就満原 学近藤康洋大橋弘美NTTLQE2009-143
2.3$\micron$m波長InAs/InP-MQW-DFBレーザで推定寿命$10^5$h以上(@45℃3mW)の長期... [more] LQE2009-143
pp.25-30
IN, RCS
(併催)
2008-05-30
09:55
東京 機械振興会館 ポーリングベースでIP転送を行うマイクロセル統一網の4Gネットワーク化
山田喬彦立命館大IN2008-5
本稿ではマイクロセルラー網とページング網を総合化した4G指向マイクロセルラー網を提案している。マイクロセルラー網は高速移... [more] IN2008-5
pp.25-30
OPE, CPM, R
(共催)
2008-04-18
14:05
東京 機械振興会館 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析
竹下達也伊賀龍三須郷 満近藤康洋NTTR2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入し... [more] R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3
pp.11-16
NC 2008-01-15
13:50
北海道 北海道大学(100年記念会館) 1分子蛍光イメージングに対する尤度比検定を用いたアプローチ
山下哲矢前田新一竹之内高志奈良先端大)・石井 信京大NC2007-88
1分子蛍光イメージングは, 蛍光マーカを観測したい分子に付与し, 光学顕微鏡で計測することで, タンパク質などの生体分子... [more] NC2007-88
pp.7-12
MI 2007-09-20
15:10
福岡 九州大学 病院地区総合研究棟一階102講義室 脳MR画像に基づいた多発性硬化症病変部の検出法の開発
山本大輔有村秀孝九大)・掛田伸吾産業医科大)・山下泰生九大病院)・熊澤誠志豊福不可依東田善治九大)・興梠征典産業医科大MI2007-45
多発性硬化症(multiple sclerosis: MS)は,症状や重篤度が病変部の発生部位や形態により異なる.また,... [more] MI2007-45
pp.51-52
ITE-ME, ITS, IE, ITE-HI, ITE-AIT
(共催)
2007-02-23
13:30
北海道 北海道大学 平均画像レベル,観視者の年齢,照明環境を考慮した液晶ディスプレイの輝度制御に関する研究
窪田 悟羽原 亮成蹊大)・中村芳知三菱電機)・山川正樹ルネサステクノロジ)・野本弘平城戸恵美子三菱電機
表示画像の平均輝度レベル(Average Luminance Level: ALL)と画面照度を実験変数として,液晶ディ... [more] ITS2006-81 IE2006-266
pp.35-40
LQE 2004-12-03
16:30
東京 機械振興会館 InGaAs/GaAs歪量子井戸レーザの突発故障解析
竹下達也須郷 満佐々木 徹東盛裕一NTT
AR(Antireflection)端面からOBIC強度(Optical-Beam Induced Current)をモ... [more] LQE2004-129
pp.59-64
WBS 2004-10-25
16:25
宮城 秋保温泉ホテルクレセント(仙台) [招待講演]地中レーダの開発と地雷探知への応用
佐藤源之東北大
地中レーダは地下水,地層調査など環境モニタリングや,コンクリート構造物の非破壊検査,埋設管検知や地盤強度調査など工業目的... [more] WBS2004-37
pp.37-42
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