| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: 最近10年)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2025-02-18 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 制御信号のドントケア割当てに基づく診断容易化設計のためのヒューリスティックアルゴリズム ○大塚裕衣・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・吉村正義（京都産大）  DC2024-107 |
VLSI の故障診断において，その診断分解能を向上させるために，レジスタ転送レベルにおける診断容易化設計手法が提案されて... [more] | DC2024-107 pp.7-12 |
| CPSY, DC, RECONF (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2024-08-08 16:45 |
徳島 | あわぎんホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
楽観/悲観構造的記号シミュレーションを用いたテスト並列化のためのドントケア割当て及びテストスケジューリング法 ○徳田晴太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 |
近年，VLSI のテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．テストパターン数を削減するためのレジ... [more] | CPSY2024-25 DC2024-25 RECONF2024-25 pp.46-51 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-10-12 14:00 |
新潟 | 湯沢東映ホテル （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当てアルゴリズム ○徐 浩豊・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2022-24 DC2022-24 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．そのため，テスト並列化を考慮したテスト... [more] | CPSY2022-24 DC2022-24 pp.37-42 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 09:45 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
擬似ブール最適化を用いたFFR出力信号線遷移とWSAの相関に基づく低消費電力指向ドントケア割当て法 ○徐 雁レイ・三浦 怜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2022-1 DC2022-1 |
近年，VLSIの低消費電力化に伴い，低消費電力テストを実行するために，低消費電力指向ドントケア判定手法とドントケア割当て... [more] | CPSY2022-1 DC2022-1 pp.1-6 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法 ○徐 浩豊・細川利典・山崎紘史・新井雅之（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2021-56 DC2021-90 |
近年，VLSIのテストコスト増大に伴い，テストパターン数の削減が重要になっている．テストパターン数を削減するために，テス... [more] | CPSY2021-56 DC2021-90 pp.67-72 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2020-62 DC2020-92 |
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前... [more] | CPSY2020-62 DC2020-92 pp.73-78 |
| DC | 2021-02-05 15:30 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2020-77 |
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] | DC2020-77 pp.48-53 |
| DC | 2020-02-26 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2019-92 |
近年，実速度スキャンテストにおいて，過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている．キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] | DC2019-92 pp.37-42 |
| DC | 2019-02-27 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2018-73 |
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために，低消費電力を志向したドントケ判... [more] | DC2018-73 pp.13-18 |
| VLD | 2017-03-03 13:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | エラートレラントアプリケーションのための論理回路の許容関数を用いた簡単化手法について ○岩崎真弥・市原英行・岩垣 剛・井上智生（広島市大） VLD2016-128 |
エラートレラントアプリケーションとは，画像処理や機械学習のように出力の多少の誤差が許容されているアプリケーションである．... [more] | VLD2016-128 pp.145-150 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]