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ディペンダブルコンピューティング研究会 (DC) (検索条件: 2009年度)
「from:2010-02-15 to:2010-02-15」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2010-02-15 09:00 |
東京 | 機械振興会館 | 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 ○中村芳行・田中正史（NECエレクトロニクス）  DC2009-65 |
プロセスの微細化に伴いIddqのばらつきが増大しており、Iddqテストが困難になっている。このため、Iddqの変動を観測... [more] | DC2009-65 pp.1-5 |
| DC | 2010-02-15 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 ○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-66 |
VLSIのテスト実行時は，消費電力が空間や時間でばらつき，それに伴い回路温度が変動する．一方，回路の動作遅延は温度に依存... [more] | DC2009-66 pp.7-12 |
| DC | 2010-02-15 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2009-67 |
過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながら... [more] | DC2009-67 pp.13-18 |
| DC | 2010-02-15 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について ○高橋 寛・樋上喜信・首藤祐太・高棟佑司・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2009-68 |
シグナルインティグリティに関する課題を解決するために，本稿では，抵抗性オープン故障検出のための拡張遅延故障モデルを提案す... [more] | DC2009-68 pp.19-24 |
| DC | 2010-02-15 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | ハードウェアデバッグ支援のためのエラー入出力トレースの上位レベル設計における再現手法 ○李 蓮福・西原 祐・松本剛史（東大）・藤田昌宏（東大/JST） DC2009-69 |
[more] | DC2009-69 pp.25-30 |
| DC | 2010-02-15 11:25 |
東京 | 機械振興会館 | 演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法 ○長 孝昭・細川利典（日大） DC2009-70 |
近年特定の応用分野において，動作記述を用いて回路設計が行われている．動作記述からレジスタ転送レベル回路を設計するさい，動... [more] | DC2009-70 pp.31-38 |
| DC | 2010-02-15 13:20 |
東京 | 機械振興会館 | 差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減 ○田辺 融・湊 浩久・加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） DC2009-71 |
近年のVLSIにおける微細化や高集積化，高速化に伴い，回路内の信号伝播時間がわずかに変化する微小遅延欠陥が問題視されてい... [more] | DC2009-71 pp.39-44 |
| DC | 2010-02-15 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2009-72 |
近年，半導体集積技術の進展に伴い，大規模集積回路(LSI)が大規模化，高集積化している．LSIが大規模化，高集積化するこ... [more] | DC2009-72 pp.45-50 |
| DC | 2010-02-15 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について 奥 慎治・○梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JTS） DC2009-73 |
本研究では，テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて，故障遅延の遅延値の算出手法を提案する．テストキ... [more] | DC2009-73 pp.51-56 |
| DC | 2010-02-15 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 ○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-74 |
本稿では，LFSR，フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし，テストデータ量制約下における高品質... [more] | DC2009-74 pp.57-62 |
| DC | 2010-02-15 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察 ○宮口拓己・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2009-75 |
本論文では，ディジタルフィルタを実現する順序回路に対する故障の許容性判定法を提案する．ディジタルフィルタの性質から誤りの... [more] | DC2009-75 pp.63-68 |
| DC | 2010-02-15 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 ○宮瀬紘平（九工大）・中村優介（パナソニックCCソフト）・大和勇太・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2009-76 |
LSIの微細化，高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし，故障箇所，故障の原因の特定を困難なものとしている．X故障モデルは... [more] | DC2009-76 pp.69-74 |
| DC | 2010-02-15 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討 堤 利幸・○刈谷泰由紀・山崎浩二（明大）・橋爪正樹・四柳浩之（徳島大）・高橋 寛・樋上喜信・高松雄三（愛媛大） DC2009-77 |
LSIの微細化に伴い，LSIテストにおけるオープン故障への対策の重要性が増してきている．しかし，オープン故障の実用的なモ... [more] | DC2009-77 pp.75-80 |
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