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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2016-12-16
13:00
山形 酒田市 総合文化センター(山形県酒田市) (山形県) High Reliable Memory Architecture with Adaptive Combination of Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC
Gian MayugaYuta YamatoNAIST)・Yasuo SatoKIT)・○Michiko InoueNAISTDC2016-64
 [more] DC2016-64
pp.1-6
DC 2016-02-17
11:55
東京 機械振興会館 (東京都) ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境
川崎真司米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大DC2015-90
故障インジェクションとは,故障が発生した回路の振る舞いを再現するための技術であり,ソフトエラーの影響解析などの目的で使用... [more] DC2015-90
pp.25-30
DC 2016-02-17
14:25
東京 機械振興会館 (東京都) 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法
里中沙矢香米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大DC2015-92
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] DC2015-92
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
13:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 (長崎県) メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成
上岡真也米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大VLD2015-40 DC2015-36
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] VLD2015-40 DC2015-36
pp.19-24
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