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すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-02-28 13:15 |
東京 | 機械振興会館 | 近似乗算器の過剰テスト緩和のためのテスト生成に関する考察 ○王 麒霖・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2023-97 |
本論文では近似演算回路に対する過剰テスト緩和について議論する． 誤り訂正機構を有し，アプリケーションの要求に応じて誤差... [more] |
DC2023-97 pp.17-22 |
| SS | 2023-03-14 17:35 |
沖縄 | 名護市産業支援センター （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
事前構文定義を必要としないリファクタリング検出手法の提案 ○古藤寛大・肥後芳樹・楠本真二（阪大） SS2022-58 |
リファクタリングとは，ソフトウェアの外部的な振る舞いを保ちつつ内部構造を変更する作業である．リファクタリングはソフトウェ... [more] | SS2022-58 pp.67-72 |
| SS | 2023-03-15 14:10 |
沖縄 | 名護市産業支援センター （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
プログラム構造が自動生成テストの網羅率に与える影響の調査 ○渡邉凌雅・肥後芳樹・楠本真二（阪大） SS2022-68 |
ソフトウェア開発工程の1つに単体テストがある．この工程では，関数やメソッドといったプログラムを構成する単位が開発者の想定... [more] | SS2022-68 pp.127-132 |
| DC | 2023-02-28 11:25 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2022-83 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | DC2022-83 pp.6-11 |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2022-11-29 09:40 |
熊本 | 金沢市文化ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
RTL故障診断容易化設計に基づくテスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 |
故障診断において，高故障検出率かつ多数の故障ペアが識別可能であることが重要である．このことを実現するために，レジスタ転送... [more] | VLD2022-26 ICD2022-43 DC2022-42 RECONF2022-49 pp.43-48 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2022-07-27 11:00 |
山口 | 海峡メッセ下関 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ゲート網羅故障のテスト生成高速化のためのブロック分割手法 ○溝田桃菜・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2022-3 DC2022-3 |
セル内の欠陥を網羅するゲート網羅故障モデルはゲート数と故障数が比例の関係にあるため，ゲート数が増大すると故障数やテストパ... [more] | CPSY2022-3 DC2022-3 pp.13-18 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2022-03-10 10:50 |
ONLINE | オンライン開催 | 故障活性化率に基づく診断分解能向上指向テスト生成法 ○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2021-57 DC2021-91 |
高い欠陥検出率を達成するテスト生成法の１つとして，n回検出テスト生成法が提案されている．さらに，テスト品質尺度として故障... [more] | CPSY2021-57 DC2021-91 pp.73-78 |
| SS, MSS (共催) |
2022-01-12 13:40 |
長崎 | 長崎県建設総合会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
自動テスト生成を利用した自動プログラム修正出力パッチ分類の試み ○藤本章良・肥後芳樹・柗本真佑・楠本真二（阪大）・安田和矢（日立） MSS2021-53 SS2021-40 |
ソフトウェア開発において効率的なデバッグを行うため，自動でプログラムを修正するツールが数多く提案されている．自動プログラ... [more] | MSS2021-53 SS2021-40 pp.124-129 |
| DC | 2021-12-10 13:00 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 ○三浦 怜・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2021-55 |
近年，超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い，低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] | DC2021-55 pp.1-6 |
| DC | 2021-02-05 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2020-74 |
近年，大規模集積回路のテストコスト増大伴い，テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている．従来手法ではコ... [more] | DC2020-74 pp.30-35 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| SS, MSS (共催) |
2020-01-14 14:15 |
広島 | 広島市立大学 サテライトキャンパス | 欠陥限局に適したテストスイートに関する考察 ○九間哲士・肥後芳樹・柗本真佑・楠本真二（阪大） MSS2019-44 SS2019-28 |
ソフトウェア開発においてデバッグに要するコストを削減することを目的として，欠陥限局に関する研究が盛んに行われている．欠陥... [more] | MSS2019-44 SS2019-28 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 16:35 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 独立経路ペアの遅延差を用いたハードウェアトロイ検出テスト生成 ○力野 英・平本悠翔郎・大竹哲史（大分大） VLD2019-46 DC2019-70 |
LSIの信頼性の向上のため，ハードウェアトロイの検出が重要である． 本稿ではハードウェアトロイが挿入された信号線におい... [more] |
VLD2019-46 DC2019-70 pp.151-155 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
| DC | 2018-02-20 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） DC2017-80 |
LSIのテスト時は，通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する．特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] | DC2017-80 pp.19-24 |
| DC | 2018-02-20 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | kサイクルテストに基づく有限状態機械のテスト生成法 ○木下湧矢・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2017-81 |
半導体集積技術の発達に伴い，VLSIの大規模化，複雑化が急速に進んでいる．これに伴い，効率の良い順序回路のテスト生成技術... [more] | DC2017-81 pp.25-30 |
| DC | 2017-02-21 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） DC2016-74 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | DC2016-74 pp.1-6 |
| DC | 2017-02-21 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 ○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2016-75 |
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている．今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし，低消費電... [more] | DC2016-75 pp.7-10 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 09:00 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 重み付き故障カバレージに基づくテストパターン並替えの高速化手法 ○犬山慎吾・岩崎一彦（首都大東京）・新井雅之（日大） VLD2016-61 DC2016-55 |
半導体製造技術の微細化，高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値の乖離が問題となっている．著者らは，ク... [more] | VLD2016-61 DC2016-55 pp.99-104 |
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