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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2023-10-13
15:10
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F [招待講演]電気特性計測プラットフォームを用いたランダムテレグラフの動作条件依存性の統計的解析
間脇武蔵黒田理人東北大SDM2023-57
我々はアレイテスト回路などから構成される測定システム全体を,電気特性計測プラットフォーム技術と呼称し,様々な半導体素子の... [more] SDM2023-57
pp.21-26
MW 2023-03-02
13:00
鳥取 鳥取大学(鳥取) 鳥取キャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
70 %超ドレイン効率を有する1.6-2.2 GHz帯GaN HEMT連続B/J級高出力増幅器
青沼奏志田中愼一芝浦工大MW2022-162
連続B/J級増幅器は,2次高調波までインピーダンスを制御することで理論的にはB級増幅器の電力効率78.5%を広帯域で維持... [more] MW2022-162
pp.31-36
MW 2023-03-02
14:55
鳥取 鳥取大学(鳥取) 鳥取キャンパス
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
FETを用いた負性抵抗発振器による直流-マイクロ波相互変換
前田貫成木山大暉佐薙 稔岡山大MW2022-166
パッケージ化されたFETをドレーン接地で用いると帰還回路がなくてもゲート端子から見て負性抵抗を示すので, ゲート端子に共... [more] MW2022-166
pp.54-59
SDM 2020-10-22
15:50
ONLINE オンライン開催 統計的計測によるドレイン-ソース間電圧がランダムテレグラフノイズに与える影響の解析
秋元 瞭黒田理人東北大)・寺本章伸広島大)・間脇武蔵市野真也諏訪智之須川成利東北大SDM2020-21
本研究では, 長方形と台形のゲートを有する, 各11520個のトランジスタのランダムノイズ特性を測定し, 振幅や時定数と... [more] SDM2020-21
pp.34-39
EMD, R
(共催)
2019-02-15
14:55
大阪 パナソニック企業年金基金 松心会館 [招待講演]MOSFETエージングモデルを用いた回路特性劣化SPICEシミュレーション
田中浩治雨宮真一郎岡村 均嶌末政憲モーデックR2018-56 EMD2018-57
今日,半導体製品は様々な製品に用いられており,車載部品や医療機器に代表される高信頼性が必須な製品にも数多く使われている.... [more] R2018-56 EMD2018-57
pp.25-30
ED, THz
(共催)
2017-12-19
09:40
宮城 東北大通研ナノ・スピン棟 InGaAs/InAs/InGaAsコンポジットチャネルHEMTの低温DC・RF特性
遠藤 聡渡邊一世笠松章史NICT)・三村高志NICT/富士通研ED2017-82
In0.7Ga0.3As/InAs/In0.7Ga0.3AsコンポジットチャネルHEMT及びIn0.7Ga0.3Asチャ... [more] ED2017-82
pp.37-40
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2017-07-31
12:00
北海道 北海道大学情報教育館 ドレインオフセット構造を持った相補型TFET回路のTCADシミュレーション
浅井栄大森 貴洋服部淳一福田浩一遠藤和彦松川 貴産総研SDM2017-35 ICD2017-23
我々はSi チャネルトンネルトランジスタ(TFET)からなる相補型論理回路のTCAD シミュレーションを行い、ドレインオ... [more] SDM2017-35 ICD2017-23
pp.21-24
MW, ED
(共催)
2017-01-27
13:25
東京 機械振興会館地下2階1号室 AlGaN/GaN HEMTの電気的特性に対する保護膜残留応力依存性 ~ TCADシミュレーションによる検討 ~
大石敏之佐賀大)・山口裕太郎山中宏治三菱電機ED2016-108 MW2016-184
AlGaN上に形成された窒化膜保護膜(SiN)の残留応力が,GaN HEMTの電気的特性(ドレイン電流,ゲートリーク電流... [more] ED2016-108 MW2016-184
pp.63-68
ED 2016-12-19
14:40
宮城 東北大通研ナノ・スピン棟 InP HEMTの低温DC・RF特性に関するドレイン側リセス長の影響
遠藤 聡渡邊一世笠松章史NICT)・高橋 剛芝 祥一中舍安宏岩井大介富士通研)・三村高志富士通研/NICTED2016-81
InP系75-nmゲートIn0.52Al0.48As/In0.63Ga0.37As HEMTの温度300及び16 Kにお... [more] ED2016-81
pp.7-12
ED 2016-01-20
15:05
東京 機械振興会館 [依頼講演]テラヘルツIC用InP HEMTの高fmax化
高橋 剛川野陽一牧山剛三芝 祥一中舍安宏原 直紀富士通研ED2015-118
300GHz帯の大容量高速無線通信を実現するために、高感度のテラヘルツ受信器が要求される。高速特性に優れたInP HEM... [more] ED2015-118
pp.37-41
SDM 2015-06-19
14:15
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー メタルソース/ドレインGe CMOS実現に向けたNiGe/Ge接合障壁変調機構の解明
岡 博史箕浦佑也淺原亮平細井卓治志村考功渡部平司阪大SDM2015-48
Ge n-MOSFETではn型不純物の低い活性化率および高い拡散係数に加え、金属電極/Ge界面におけるフェルミレベルピニ... [more] SDM2015-48
pp.51-55
EE, CPM
(共催)
2014-02-27
15:10
東京 機械振興会館 SiC-BGSIT素子のスイッチング特性と等価回路について
井 幸孝小川晃史田中哲郎鹿児島大EE2013-56 CPM2013-157
本稿の目的は、SiCを用いた埋め込みゲート型静電誘導トランジスタ(SiC-BGSIT)のドレイン-ゲート間相互作用による... [more] EE2013-56 CPM2013-157
pp.43-48
SDM 2014-01-29
10:50
東京 機械振興会館 [招待講演]高信頼メタル/high-k CMOS SOI FinFETsのための高温イオン注入技術
水林 亘産総研)・おの田 博中島良樹日新イオン機器)・石川由紀松川 貴遠藤和彦Yongxun Liu大内真一塚田順一山内洋美右田真司森田行則太田裕之昌原明植産総研SDM2013-138
高温イオン注入がメタルゲート/high-k CMOS SOI FinFETsの性能及び信頼性に及ぼす影響について調べた。... [more] SDM2013-138
pp.13-16
ED 2013-12-16
13:55
宮城 東北大通研 埋め込みゲートを有するInAlAs/InGaAs HEMTのモンテカルロ計算
遠藤 聡NICT/富士通研)・渡邊一世笠松章史NICT)・三村高志富士通研/NICTED2013-92
InP系HEMTをより高速化する手段の一つとして,ゲート電極フット先端をバリア層に埋め込んだ構造がある.本研究においては... [more] ED2013-92
pp.13-17
ED 2013-12-16
14:20
宮城 東北大通研 高精度スペクトル計測に向けたF帯InP HEMT基本波ミキサの開発
芝 祥一佐藤 優松村宏志高橋 剛鈴木俊秀中舍安宏原 直紀富士通ED2013-93
110 GHzを超える周波数での高精度スペクトル計測を目的として,InP HEMT技術を用いた広帯域基本波ミキサを開発し... [more] ED2013-93
pp.19-23
SDM 2013-11-15
13:25
東京 機械振興会館 ウィグナーモンテカルロ法を用いた極微細III-V MOSFETの量子輸送解析
大森正規木場隼介前川容佑神戸大)・土屋英昭神戸大/JST)・鎌倉良成森 伸也阪大/JST)・小川真人神戸大SDM2013-111
本稿では、ウィグナーモンテカルロシミュレーションを用いて、III-V MOSFETにおけるソース・ドレイン(SD)直接ト... [more] SDM2013-111
pp.65-70
EMCJ, MW, EST
(共催)
IEE-EMC
(連催) [詳細]
2013-10-24
13:50
宮城 東北大 青葉山キャンパス アウトフェージング増幅器を用いた携帯電話基地局用送信機の効率改善
木村重一玉野井 健馬庭 透高野 健富士通研EMCJ2013-69 MW2013-109 EST2013-61
携帯電話システムでは,近年のトラフィック増加に伴い,基地局の増設が行われている.一方,環境負荷低減の面から低消費電力化が... [more] EMCJ2013-69 MW2013-109 EST2013-61
pp.53-58
SDM 2013-06-18
10:55
東京 機械振興会館 ゲートスタックへのHf導入によるメタル・ソース/ドレインGe p-MOSFETの高移動度化
山本圭介佐田隆宏王 冬中島 寛九大SDM2013-49
高性能GeチャネルCMOS実現には、寄生抵抗を極限まで低減したメタル・ソース/ドレイン(S/D)の導入が望ましい。我々は... [more] SDM2013-49
pp.29-32
MW, ED
(共催)
2013-01-18
14:30
東京 機械振興会館 AlGaN/GaN HEMTのドレインリーク電流解析
林 一夫大石敏之加茂宣卓山口裕太郎大塚浩志山中宏治中山正敏三菱電機)・宮本恭幸東工大ED2012-125 MW2012-155
AlGaN/GaN HEMTのドレインリーク電流について,実測とTCADシミュレーションの両方から解析した.まず,ピンチ... [more] ED2012-125 MW2012-155
pp.69-74
MW 2012-12-13
14:00
山梨 山梨大学 E級電力増幅回路のEPWM送信機への応用に関する一検討
大山修毅太郎丸 真福岡大MW2012-128
E,F級などのスイッチング増幅器はPAEが優れているが,非線形である.このアンプをOFDMなどの線型変調へ適用することが... [more] MW2012-128
pp.7-12
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