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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2021-06-22
13:10
ONLINE オンライン開催 [記念講演]イソプロピルアルコールを用いた金属銅及び酸化銅上の表面改質
間脇武蔵東北大)・寺本章伸広島大)・石井勝利東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ)・志波良信諏訪智之東北大)・東雲秀司清水 亮梅澤好太東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ)・黒田理人白井泰雪須川成利東北大SDM2021-22
半導体製造工程における銅配線上での選択的形成プロセスに向けて,イソプロピルアルコール(IPA)を用いた酸化銅の還元反応と... [more] SDM2021-22
pp.1-6
SDM 2021-06-22
17:30
ONLINE オンライン開催 熱処理によるAlおよびAg/Ge(111)上の極薄Ge形成と層厚制御
大田晃生松下圭吾田岡紀之牧原克典宮﨑誠一名大SDM2021-29
化学溶液洗浄したGe(111)上にAlを真空蒸着したAl/Ge(111)において、真空熱処理の温度や時間がAl表面に形成... [more] SDM2021-29
pp.27-31
SDM 2020-10-22
14:50
ONLINE オンライン開催 IPAを用いた銅・酸化銅上の表面改質
間脇武蔵東北大)・寺本章伸広島大)・石井勝利東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ)・志波良信諏訪智之東北大)・東雲秀司清水 亮梅澤好太東京エレクトロンテクノロジーソリューションズ)・黒田理人白井泰雪須川成利東北大SDM2020-19
半導体製造工程における銅配線上での選択的形成プロセスに向けて,イソプロピルアルコール(IPA)を用いた酸化銅の還元反応と... [more] SDM2020-19
pp.25-29
SDM 2018-10-18
13:00
宮城 東北大学未来情報産業研究館5F 窒素添加LaB6界面制御層によるペンタセン/SiO2界面特性向上に関する検討
前田康貴朴 鏡恩小松勇貴大見俊一郎東工大SDM2018-60
これまで我々は、窒素添加LaB6界面制御層によるペンタセンデバイスの特性向上に関する検討を行い、デバイス特性の向上に窒素... [more] SDM2018-60
pp.41-45
CPM 2018-08-10
11:25
青森 弘前大学文京町地区キャンパス Zr系金属ガラス表面の元素組成と化学結合状態
郡山春人藤森敬典遠田義晴弘前大)・富樫 望アダマンド並木精密宝石CPM2018-19
Zr系金属ガラスであるVit 105合金(Zr_{52.5}Cu_{17.9}Ni_{14.6}Al_{10}Ti_{5... [more] CPM2018-19
pp.53-56
LQE, CPM, ED
(共催)
2017-12-01
13:45
愛知 名古屋工業大学 XPSおよびESRを用いたAlGaN上ALD-Al2O3膜の化学状態に対する膜厚および熱処理効果の評価
久保俊晴三好実人江川孝志名工大ED2017-64 CPM2017-107 LQE2017-77
GaN系パワーデバイスのMIS構造に用いる絶縁膜として, ALDで成膜したAl2O3が多く用いられており, 成膜後熱処理... [more] ED2017-64 CPM2017-107 LQE2017-77
pp.73-76
CPM 2017-10-27
13:30
長野 信州大学 長野(工学)キャンパス E7棟 3階 研修室 化学気相堆積した窒化ホウ素炭素膜の形成条件の検討
小坂舞人浦上法之橋本佳男信州大CPM2017-67
ワイドバンドギャップエネルギーを有する炭素系化合物半導体の実現に向けて、化学気相堆積法によりグラファイト状窒化炭素へホウ... [more] CPM2017-67
pp.1-4
SDM, EID
(共催)
2016-12-12
09:45
奈良 奈良先端科学技術大学院大学 ヘテロ接合型FeS2-Pyrite太陽電池に向けたFeS2/NiOx接合のバンドオフセット評価
河村祐亮石河泰明内山俊祐奈良先端大)・野瀬嘉太郎京大)・浦岡行治奈良先端大EID2016-10 SDM2016-91
FeS2-pyriteを用いたヘテロ接合型太陽電池の実現を目的として,フラックス法によって作製したFeS2バルク結晶にN... [more] EID2016-10 SDM2016-91
pp.7-10
SDM 2016-06-29
14:45
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 リモート酸素プラズマ支援CVDによる低温SiO2薄膜形成
グェンスァン チュン藤村信幸竹内大智大田晃生牧原克典池田弥央宮崎誠一名大SDM2016-41
SiH4と励起したAr希釈O2を用いたリモート酸素プラズマ支援CVD(O2-RPCVD)により水素終端したSi表面上にS... [more] SDM2016-41
pp.49-52
ED, LQE, CPM
(共催)
2012-11-29
11:30
大阪 大阪市立大学 GaNの表面処理による表面フェルミ準位変化の推定
杉浦洋平網谷良介多次見大樹工学院大)・尾沼猛儀東京高専)・山口智広本田 徹工学院大ED2012-68 CPM2012-125 LQE2012-96
六方晶(0001)GaN(Ga面)の表面フェルミ準位変化について、X線光電子分光法(XPS)を用い、表面酸化物量と関連づ... [more] ED2012-68 CPM2012-125 LQE2012-96
pp.13-15
SDM 2012-10-25
15:45
宮城 東北大学未来研 AR-XPS及びHAX-PESによるSiO2/SiC界面の化学結合状態評価
岡田葉月小松 新渡辺将人東京都市大)・泉 雄大室 隆圭介高輝度光科学研究センター)・澤野憲太郎野平博司東京都市大SDM2012-90
我々は、SPring-8のBL27SUでSiO2/SiCの角度分解X線光電子分光(AR-XPS)測定とエッチングにより酸... [more] SDM2012-90
pp.5-9
SDM 2012-03-05
13:00
東京 機械振興会館 ラマン分光法およびXPSによるSiO2/Si基板上での多層グラフェン成長初期の研究
尾白佳大小川修一東北大)・犬飼 学高輝度光科学研究センター)・佐藤元伸産総研)・池永英司室 隆桂之高輝度光科学研究センター)・二瓶瑞久産総研)・高桑雄二東北大)・横山直樹産総研SDM2011-179
光電子制御プラズマCVDはグラファイト材料を低温成長 (~400 ℃) 、触媒無し、大面積で成長できる有力な手法である。... [more] SDM2011-179
pp.19-24
SDM 2011-10-21
10:50
宮城 東北大学未来研 AR-XPSによる種々の表面処理したIn0.53Ga0.47As表面の化学結合状態の評価
沼尻侑也山下晃司小松 新東京都市大)・ザデ ダリューシュ角嶋邦之岩井 洋東工大)・野平博司東京都市大SDM2011-106
我々はHF,自然酸化,(NH4)2S,またはHMDS(Hexamethydisilazane)という表面処理がIn0.5... [more] SDM2011-106
pp.53-58
ED 2011-07-30
10:15
新潟 長岡技術科学大学マルチメディアシステムセンター 高温溶媒吸着法による色素増感太陽電池の高効率化
石田瑛之吉田洋大籾山克章鈴木貴彦廣瀬文彦山形大ED2011-49
色素増感太陽電池の発電効率はTiO2層上の色素の吸着量に依存する。これまで、色素吸着量を増やすために、高い比表面積を持つ... [more] ED2011-49
pp.59-62
SDM 2011-07-04
10:40
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) Si高指数面酸化過程のリアルタイム光電子分光による評価
大野真也井上 慧森本真弘新江定憲豊島弘明横浜国大)・吉越章隆寺岡有殿原子力機構)・尾形祥一横浜国大)・安田哲二産総研)・田中正俊横浜国大SDM2011-54
面方位(113)、(120)のシリコン高指数面の初期酸化過程を光電子分光法を用いて調べた。酸化状態Sin+(n=1-4)... [more] SDM2011-54
pp.23-27
SDM 2011-07-04
12:00
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) Ge(100)表面の極薄TiOxキャッピングによるHfO2原子層堆積/熱処理時の界面反応制御
村上秀樹藤岡知宏大田晃生三嶋健斗東 清一郎広島大)・宮崎誠一名大SDM2011-58
High-k/Ge界面制御手法として、極薄TiO2層の挿入に着目し、塩酸処理したGe(100)表面上へのTiO2の原子層... [more] SDM2011-58
pp.47-50
SDM 2011-07-04
14:00
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) 金属/GeO2界面における化学結合状態の光電子分光分析
松井真史藤岡知宏大田晃生村上秀樹東 清一郎広島大)・宮崎誠一名大SDM2011-61
熱酸化により形成したGeO2/Ge(100)界面および金属(Al, AuおよびPt)薄膜形成後のGeO2との界面化学結合... [more] SDM2011-61
pp.63-68
SDM 2011-07-04
15:40
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) 高温熱処理によるTiN/HfLaSiO/SiO2ゲートスタック中Hf及びLa原子のTiN電極中への拡散とMIPS構造による抑制
大嶽祐輝有村拓晃佐伯雅之力石薫介北野尚武細井卓治志村考功渡部平司阪大SDM2011-65
ゲートファーストプロセスによるMetal/High-kスタックの実現に向け、TiN/HfLaSiO/SiO2ゲートスタッ... [more] SDM2011-65
pp.87-92
SDM, ED
(共催)
(第二種研究会)
2011-06-29
- 2011-07-01
海外 Legend Hotel Clear Difference between the Chemical Structure of SiO2/Si Interfaces Formed Using Oxygen Radicals and Oxygen Molecules
Tomoyuki SuwaAkinobu TeramotoTadahiro OhmiTakeo HattoriTohoku Univ.
 [more]
SDM 2011-02-07
13:40
東京 機械振興会館 Ti基自己形成バリア構造の誘電体層組成依存性
小濱和之伊藤和博薗林 豊京大)・大森和幸森 健壹前川和義ルネサス エレクトロニクス)・白井泰治京大)・村上正紀立命館大SDM2010-221
我々は、Cu(Ti)合金薄膜と誘電体層との界面反応を用いた「Ti基自己形成バリア」を検討してきた。近年、Ti基自己形成バ... [more] SDM2010-221
pp.31-35
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