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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:00 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2017-41 DC2017-47 |
論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] | VLD2017-41 DC2017-47 pp.85-90 |
| DC | 2016-02-17 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について ○李 富強・温 暁青・ホルスト シュテファン・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2015-87 |
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] | DC2015-87 pp.7-12 |
| DC | 2015-06-16 15:35 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | ラッチを用いた非同期式パイプライン回路の機能テストに関する一検討 豊嶋太樹・寺山恭平・黒川 敦・○今井 雅（弘前大） DC2015-19 |
初期化フェーズによるオーバーヘッドがない 2Phaseハンドシェイクプロトコルに基づく非同期式回路として、記憶素子に D... [more] | DC2015-19 pp.19-24 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| DC | 2014-06-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-13 |
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の... [more] | DC2014-13 pp.21-26 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について ○加藤隆明・喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-93 DC2013-59 |
スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている．しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異... [more] | VLD2013-93 DC2013-59 pp.233-238 |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
| DC | 2012-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） DC2011-80 |
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTに... [more] | DC2011-80 pp.25-29 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 09:25 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法 ○赤川慎人・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） VLD2011-72 DC2011-48 |
テスト容易化設計のうち近年増加している遅延故障の検出に対応した手法の1種にスキャン設計がある．このスキャン設計の1つとし... [more] | VLD2011-72 DC2011-48 pp.121-126 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 山口久登・○松薗 誠・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2011-83 DC2011-59 |
組込み自己テスト（BIST）では，テスト時の消費電力が通常動作時より多いため，電圧降下による誤動作や，発熱による性能劣化... [more] | VLD2011-83 DC2011-59 pp.179-183 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価 ○山口久登・松薗 誠・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2010-61 DC2010-28 |
フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため，テストデータ量を極力少なく... [more] | VLD2010-61 DC2010-28 pp.31-36 |
| DC | 2009-06-19 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2009-15 |
低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] | DC2009-15 pp.29-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:50 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について ○高嶋敦之・大和勇太・古川 寛・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2008-62 DC2008-30 |
スキャンテストのキャプチャモードにおいて，回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可... [more] | VLD2008-62 DC2008-30 pp.13-18 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について ○福澤友晶・宮瀬紘平・大和勇太・古川 寛・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2007-71 DC2007-26 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] | VLD2007-71 DC2007-26 pp.7-12 |
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