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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2024-02-28 15:05 |
東京 | 機械振興会館 | 論理回路の分岐再収斂構造解析による高消費電力エリア特定に関する研究 ○山下友哉・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）  DC2023-101 |
昨今のLSI製造技術の進歩は著しい．LSIが性能優先で開発される際は，LSIの消費電力削減の優先順位は低い場合がある．し... [more] | DC2023-101 pp.41-46 |
| DC | 2023-02-28 16:40 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 ○宇都宮大喜・宮瀬紘平・星野 龍（九工大）・ルー シュエクン（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2022-92 |
LSIテストにおいて消費電力が大きい場合，過度のIR-dropを引き起こすことがある．過度のIR-dropは過度の遅延を... [more] | DC2022-92 pp.56-61 |
| DC | 2022-03-01 14:20 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
信号値遷移確率を用いた高消費電力エリア特定技術の計算処理評価に関する研究 ○星野 龍・宇都宮大喜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2021-73 |
近年，LSIの高速化・微細化が進み, LSIが故障しているかどうかを判断するLSIのテストが困難になっている．LSIテス... [more] | DC2021-73 pp.51-56 |
| DC | 2021-02-05 12:00 |
ONLINE | オンライン開催 | メモリのサイズおよび形状に起因するロジック部の高消費電力エリア特定に関する研究 ○高藤大輝・星野 龍・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2020-72 |
[more] | DC2020-72 pp.18-23 |
| VLD, DC, RECONF, ICD, IPSJ-SLDM (連催) (併催) [詳細] |
2020-11-17 10:30 |
ONLINE | オンライン開催 | LSIの領域毎の信号値遷移確率に基づく電力評価に関する研究 ○大庭 涼・星野 竜・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 |
LSIテストでは通常動作時に比べて信号値遷移が多く発生するため，消費電力が増加する．消費電力が増加すると過度なIR-dr... [more] | VLD2020-13 ICD2020-33 DC2020-33 RECONF2020-32 pp.12-17 |
| DC | 2020-02-26 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究 ○児玉優也・宮瀬紘平・高藤大輝・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-93 |
LSIのテスト時は，通常動作時と比べて消費電力が大きくなる．過度なIRドロップは，過度な遅延値を引き起こし，特に実速度テ... [more] | DC2019-93 pp.43-48 |
| DC | 2020-02-26 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 ○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2019-94 |
LSI テスト時は，通常動作より多くの信号値遷移が起こることで過度なIRドロップが発生し，LSI回路内部の信号伝搬遅延時... [more] | DC2019-94 pp.49-54 |
| DC | 2019-02-27 10:15 |
東京 | 機械振興会館 | LSIのホットスポット分布の解析に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平（九工大）・呂 學坤（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2018-74 |
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は，電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] | DC2018-74 pp.19-24 |
| DC | 2018-02-20 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究 ○河野雄大・宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） DC2017-80 |
LSIのテスト時は，通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する．特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] | DC2017-80 pp.19-24 |
| DC | 2017-02-21 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究 ○宮瀬紘平・濱崎機一（九工大）・ザウアー マティアス（フライブルク大）・ポリアン イリア（パッサウ大）・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2016-75 |
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている．今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし，低消費電... [more] | DC2016-75 pp.7-10 |
| DC | 2015-06-16 15:00 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究 ○宮瀬紘平（九工大）・ザウアー マティアス・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2015-18 |
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している．特に，瞬間的な過度の消費電力の増加は，過度なI... [more] | DC2015-18 pp.13-18 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 ○宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） VLD2012-104 DC2012-70 |
テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テスト... [more] | VLD2012-104 DC2012-70 pp.261-266 |
| DC | 2012-06-22 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2012-14 |
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御... [more] | DC2012-14 pp.33-38 |
| DC | 2012-02-13 11:05 |
東京 | 機械振興会館 | パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 ○田中広彬・宮瀬紘平・榎元和成・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2011-78 |
LSIの信号値伝搬が遅延する欠陥を検出するために，遅延テストが広く用いられている．本稿では，遷移遅延故障テストにおけるパ... [more] | DC2011-78 pp.13-18 |
| DC | 2012-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） DC2011-80 |
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTに... [more] | DC2011-80 pp.25-29 |
| DC | 2012-02-13 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） DC2011-86 |
VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化に伴い，劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し，障害発生による... [more] | DC2011-86 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 山口久登・○松薗 誠・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2011-83 DC2011-59 |
組込み自己テスト（BIST）では，テスト時の消費電力が通常動作時より多いため，電圧降下による誤動作や，発熱による性能劣化... [more] | VLD2011-83 DC2011-59 pp.179-183 |
| DC | 2011-06-24 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm） DC2011-13 |
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を... [more] | DC2011-13 pp.29-34 |
| DC | 2011-02-14 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）・麻生正雄・古川 寛（ルネサス マイクロシステム）・大和勇太（福岡県産業・科学技術振興財団）・梶原誠司（九工大） DC2010-60 |
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は，LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし，歩留り低下の... [more] | DC2010-60 pp.7-12 |
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