電子情報通信学会技術研究報告

Print edition: ISSN 0913-5685      Online edition: ISSN 2432-6380

Volume 109, Number 316

ディペンダブルコンピューティング

開催日 2009-12-02 - 2009-12-04 / 発行日 2009-11-25

[PREV] [NEXT]

[TOP] | [2006] | [2007] | [2008] | [2009] | [2010] | [2011] | [2012] | [Japanese] / [English]

[PROGRAM] [BULK PDF DOWNLOAD]


目次

DC2009-30
高位合成の完全ILP記述に基づくマルチプレクサの最小化
○井上恵介(北陸先端大/学振)・金子峰雄(北陸先端大)
pp. 13 - 18

DC2009-31
条件依存処理の実行確率を考慮した消費電力削減および二重電源電圧への応用
○伊藤和人・金 玄俊(埼玉大)
pp. 19 - 24

DC2009-32
LSIのデータ通信消費電力を削減するリソースバインディング手法
世渡秀和・○伊藤和人(埼玉大)
pp. 25 - 30

DC2009-33
タイミングを考慮したハードウェア/ソフトウェア分割手法の評価
○松永惇弥・村岡道明(高知大)
pp. 31 - 36

DC2009-34
組み込みアプリケーションを対象とした2階層ユニファイドキャッシュのシミュレーション手法
○小林優太・戸川 望・柳澤政生・大附辰夫(早大)
pp. 37 - 42

DC2009-35
2階層キャッシュメモリにおけるシミュレーションベースのバス幅最適化手法
○渡辺信太・戸川 望・柳澤政生・大附辰夫(早大)
pp. 43 - 48

DC2009-36
順序回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の計算精度および実行時間の評価
○赤峰悠介・吉村正義・松永裕介(九大)
pp. 55 - 60

DC2009-37
ソフトエラー検出機能を有するBILBOレジスタ
○菅澤正弘・難波一輝・伊藤秀男(千葉大)
pp. 61 - 66

DC2009-38
プロセス二重化とプロセス対交換によるチップマルチプロセッサの高信頼化手法
○長井智英・今井 雅・南谷 崇(東大)
pp. 67 - 72

DC2009-39
スキャンベース攻撃とその防御法に対する定量的なセキュリティ評価
○伊藤侑磨・吉村正義・安浦寛人(九大)
pp. 73 - 78

DC2009-40
DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定
○岸 和敬・眞田 克(高知工科大)
pp. 85 - 88

DC2009-41
テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察
○天野雄二郎・吉川祐樹・市原英行・井上智生(広島市大)
pp. 89 - 94

DC2009-42
信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
○別府 厳(九工大)・宮瀬紘平(九工大/JST)・大和勇太(九工大)・温 暁青・梶原誠司(九工大/JST)
pp. 95 - 100

DC2009-43
プログラマブル光再構成型ゲートアレイのホログラム窓の影響解析
○久保田慎也・渡邊 実(静岡大)
pp. 101 - 105

DC2009-44
電流モード型DC-DCコンバータ用小型適応型スロープ補償回路
○柴田公男・範 公可(電通大)
pp. 107 - 111

DC2009-45
クロストークによる遅延変動を考慮した論理シミュレーション
○小林政幸・仙頭 航・豊永昌彦・村岡道明(高知大)
pp. 119 - 124

DC2009-46
Increasing Yield Using Partially-Programmable Circuits
○Shigeru Yamashita(Ritsumeikan Univ.)・Hiroaki Yoshida・Masahiro Fujita(Univ. of Tokyo)
pp. 125 - 130

DC2009-47
トランジスタ・アレイ方式に基づくオペアンプのレイアウト設計およびその評価
○川添亜里沙・藤村 徹・中武繁寿(北九州市大)
pp. 131 - 136

DC2009-48
MOSトランジスタ特性の距離/空間ばらつきにおけるレイアウト構造依存性の解析
○佐土平裕一・中武繁寿(北九州市大)
pp. 137 - 142

DC2009-49
テスト圧縮指向ドントケア抽出法
○若園大洋・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
pp. 149 - 154

DC2009-50
RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計
○早川鉄平・細川利典(日大)・吉村正義(九大)
pp. 155 - 160

DC2009-51
開放故障に伴う不安定論理の固定化 ~ 簡易な故障診断技術を目指して ~
○眞田 克(高知工科大)・橋田啓二(ルネサスデザイン)・安富泰輝(高知工科大)
pp. 161 - 166

DC2009-52
劣化検知テストにおけるパス選択について
○野田光政(九工大)・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青(九工大/JST)・三浦幸也(首都大東京/JST)
pp. 167 - 172

DC2009-53
オペランドの和を用いた並列乗算器の消費エネルギー評価
○川島裕崇・高木直史(名大)
pp. 173 - 178

DC2009-54
設計固有セルライブラリの自動生成手法
○吉田浩章・藤田昌宏(東大/JST)
pp. 179 - 184

DC2009-55
フレックスマージ: LUT数削減を目的としたLUT型FPGA向け論理最適化手法
○高田大河・松永裕介(九大)
pp. 185 - 190

注: 本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります.


IEICE / 電子情報通信学会