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シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)  (検索条件: 2010年度)

「from:2010-12-17 to:2010-12-17」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2010-12-17
10:00
京都 京都大学(桂) MOSFETのしきい値電圧および理論計算から求めた<100>Siナノワイヤのバンドギャップ
吉岡裕典森岡直也須田 淳木本恒暢京大SDM2010-185
18 nmから4 nmの断面サイズ(断面積の平方根)の<100>SiナノワイヤMOSFETを作製し、電気的特性を評価した... [more] SDM2010-185
pp.1-6
SDM 2010-12-17
10:20
京都 京都大学(桂) X線検出素子(Silicon Drift Detector)用Si基板の高抵抗率化 ~ シミュレーションによる評価 ~
北野谷征吾西川誠二松浦秀治阪電通大SDM2010-186
環境問題の高まりから有害物質に対する規制が多く設けられている.有害物質検査の短時間化を計るために,可搬できる蛍光X線検出... [more] SDM2010-186
pp.7-12
SDM 2010-12-17
10:40
京都 京都大学(桂) イオンチャネリングによるホイスラー合金Fe3-xMnxSi(111)/Ge(111)ヘテロエピタキシャル界面の軸配向性の評価
中島孝仁松倉武偉京大)・鳴海一雅原子力機構)・前田佳均京大SDM2010-187
イオンチャネリングを用いて,エピタキシャル成長したFe3-xMnxSi(111)/Ge(111)界面の軸配向性を評価した... [more] SDM2010-187
pp.13-17
SDM 2010-12-17
11:00
京都 京都大学(桂) 蛍光体粉末の微粒化処理によるZnS無機ELの発光特性の改善
堀口昌吾紺谷拓哉堀田昌宏奈良先端大)・田口信義イメージテック)・浦岡行治奈良先端大/JSTSDM2010-188
硫化亜鉛(ZnS)等のII-VI族半導体材料を用いた分散型無機ELは,照明や次世代ディスプレイへの応用が期待されている.... [more] SDM2010-188
pp.19-23
SDM 2010-12-17
11:20
京都 京都大学(桂) 多結晶シリコン太陽電池の作製における室温レーザードーピング
長谷川光洋平田憲司高山 環舟谷友宏冬木 隆奈良先端大SDM2010-189
近年、次世代クリーンエネルギーとして太陽電池の需要が世界的に急増している。それに伴い、シリコン原料の不足やコスト削減とい... [more] SDM2010-189
pp.25-28
SDM 2010-12-17
11:40
京都 京都大学(桂) 結晶系シリコン太陽電池におけるドーパントプレカーサー制御によるレーザードーピングプロセスの最適化
舟谷友宏平田憲司高山 環長谷川光洋冬木 隆奈良先端大SDM2010-190
近年、シリコン太陽電池の低コスト化と高効率化の2つの要素を可能とするプロセスの開発が急務であり、その1つとしてレーザード... [more] SDM2010-190
pp.29-32
SDM 2010-12-17
12:00
京都 京都大学(桂) ナノ構造シリコンへのH2-N2プラズマ処理効果
渡辺晃次須田健一仲田英起本橋光也東京電機大SDM2010-191
本研究では,ナノ構造シリコン(NS)表面へのプラズマ処理がその表面構造に与える影響について検討した.このプラズマ処理は,... [more] SDM2010-191
pp.33-37
SDM 2010-12-17
13:20
京都 京都大学(桂) [招待講演]ReRAMの物性評価と基本メモリ特性の制御
木下健太郎依田貴稔田中隼人花田明紘岸田 悟鳥取大SDM2010-192
 [more] SDM2010-192
pp.39-44
SDM 2010-12-17
13:50
京都 京都大学(桂) 真空中での熱処理によるPt/NiO/Pt抵抗変化素子の電気的特性変化
岩田達哉西 佑介木本恒暢京大SDM2010-193
 [more] SDM2010-193
pp.45-49
SDM 2010-12-17
14:10
京都 京都大学(桂) 放電電流過渡分光法を用いた高純度半絶縁性4H-SiCの欠陥評価における犠牲酸化処理の効果
西川誠二北野谷征吾松浦秀治阪電通大SDM2010-194
低抵抗率半導体の欠陥評価として過渡容量法が有用であるが,半絶縁性半導体には適用できないため,過渡電流法の1つである放電電... [more] SDM2010-194
pp.51-56
SDM 2010-12-17
14:30
京都 京都大学(桂) 200keV電子線照射による4H-SiCエピ膜中の多数キャリア密度の変化
野尻琢慎西野公三柳澤英樹松浦秀治阪電通大)・小野田 忍大島 武原子力機構SDM2010-195
添加量の異なるAl-doped 4H-SiC及びN-doped 4H-SiCエピ膜に200 keVの電子線を照射した場合... [more] SDM2010-195
pp.57-62
SDM 2010-12-17
14:50
京都 京都大学(桂) 超臨界水で酸化したSiC基板表面とその膜質評価
佐藤智久阪大)・二ツ木高志大江太郎オルガノ)・小松直佳木村千春青木秀充阪大SDM2010-196
 [more] SDM2010-196
pp.63-67
SDM 2010-12-17
15:10
京都 京都大学(桂) 多原子分子イオンビームによるシリコン表面照射効果
竹内光明龍頭啓充高岡義寛京大SDM2010-197
n-オクタンから生成したC$_{3}$H$_{7}^{+}$およびC$_{6}$H$_{13}^{+}$ 多原子分子イオ... [more] SDM2010-197
pp.69-72
SDM 2010-12-17
15:45
京都 京都大学(桂) ホトルミネセンス法およびDLTS法によるシリコン極浅接合の再結晶化過程の評価
奥谷真士高島周平吉本昌広京都工繊大)・Woo Sik YooWaferMastersSDM2010-198
ホトルミネセンス(PL)法を活用して,極浅接合の再結晶化に関する新しい知見を得た.イオン注入層の再結晶化に伴う10 oh... [more] SDM2010-198
pp.73-78
SDM 2010-12-17
16:05
京都 京都大学(桂) ガラス上に形成された大粒径を有する低温poly-Si1-xGex薄膜トランジスタの開発
岡部泰典近藤健二東北学院大)・広瀬研太鈴木順季北原邦紀島根大)・原 明人東北学院大SDM2010-199
多結晶半導体からなる薄膜トランジスタ(TFT)の移動度は結晶粒径に依存する。我々は、前駆体として非晶質Si1-xGexを... [more] SDM2010-199
pp.79-82
SDM 2010-12-17
16:25
京都 京都大学(桂) 裏面からのレーザー照射による2層同時結晶化LTPS-TFTメモリの特性評価
松江将博市川和典赤松 浩神戸高専)・山崎浩司堀田昌宏浦岡行治奈良先端大SDM2010-200
これまで、a-Si/SiO2/a-Siを積層した基板にグリーンレーザーを照射した場合、2層同時結晶化することを報告し、さ... [more] SDM2010-200
pp.83-86
SDM 2010-12-17
16:45
京都 京都大学(桂) Siゲートを持つDNA電界効果トランジスタに関する研究
高城祥吾松尾直人山名一成部家 彰高田忠雄兵庫県立大)・坂本憲児横山 新広島大SDM2010-201
本研究では,Si基板を用いて100nm程度のギャップを持つ電極を作製し,電極間に固定されたDNAの伝導特性,及び,n-S... [more] SDM2010-201
pp.87-91
SDM 2010-12-17
17:05
京都 京都大学(桂) Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワーク ~ 複数回の学習とAND・OR・EXORの学習 ~
宮谷友彰藤田悠佑龍谷大)・三島大樹奈良先端大)・谷口 仁笠川知洋木村 睦龍谷大SDM2010-202
Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワークを開発した。これは、はじめは何ら機能を持っていないが、... [more] SDM2010-202
pp.93-97
SDM 2010-12-17
17:25
京都 京都大学(桂) 高圧水蒸気熱処理によるa-In2Ga2Zn1O7 TFTの特性改善効果
丸山智己藤井茉美奈良先端大)・笠見雅司矢野公規出光興産)・堀田昌宏石河泰明奈良先端大)・浦岡行治奈良先端大/JSTSDM2010-203
非晶質酸化物半導体(a-IGZO)は,透明フレキシブル薄膜トランジスタ(TFT)を実現する上で,有用な材料である.a-I... [more] SDM2010-203
pp.99-102
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